TERMIUM Plus®

The Government of Canada’s terminology and linguistic data bank.

FORCE FIELD MICROSCOPY [1 record]

Record 1 2014-06-16

English

Subject field(s)
  • Optics
  • Electrochemistry

French

Domaine(s)
  • Optique
  • Électrochimie
CONT

L'un des attraits majeurs des microscopies à force est la possibilité qu'elles donnent d'obtenir des images d'échantillons isolants. Ceci est particulièrement important lorsque les études sont menées hors ultravide, dans des conditions où même les surfaces métalliques gardent difficilement une bonne conductivité. Cette technique est, d'autre part, beaucoup moins perturbante que la microscopie à effet tunnel, lorsqu'elle est utilisée en milieu électrochimique. Un domaine d'application très important pour ces techniques est celui de l'adhésion et de la friction. Il est en effet possible avec certains MFA [microscopes à forces atomiques] d'enregistrer les mouvements du cantilever dans le plan de la surface, et d'accéder ainsi aux forces de friction à l'échelle atomique.

Spanish

Campo(s) temático(s)
  • Óptica
  • Electroquímica
PHR

Microscopía de fuerzas bimodal.

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