TERMIUM Plus^®

Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

A technique for microchemical analysis that permits the visualization of a three-dimensional chemical image of the solid state using primary ions.  4, record 1, English, - secondary%20ion%20mass%20spectrometry

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Ion probe instrumentation requires a primary ion source, primary ion extraction and focusing systems, a sample chamber ... a mass spectrometer for mass-charge separation of the secondary ions, and a ion-detection system.  4, record 1, English, - secondary%20ion%20mass%20spectrometry

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Analyse quantitative de la surface de l'acier par microanalyse ionique [...]. L'utilisation du microanalyseur ionique de Slodzian en tant que technique d'étude des surfaces est liée à la maîtrise des deux phénomènes mis en œuvre, à savoir le phénomène de pulvérisation cathodique qui permet de mettre à nu des plans atomiques de plus en plus profonds et le phénomène d'émission ionique secondaire qui permet d'analyser, à l'aide du spectromètre de masse, les éléments contenus dans la cible.  2, record 1, French, - spectrom%C3%A9trie%20de%20masse%20d%27ions%20secondaires

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Cette technique, initialement introduite par Castaing et Slodzian dès 1962 pour l'analyse de surface en géologie et en métallurgie, a été appliquée à la biologie par Galle à partir de 1970. Le principe de base de la méthode repose sur un principe simple; si une surface est bombardée par un faisceau d'ions primaires énergétiques ces particules vont induire la rupture des liaisons chimiques des molécules présentes dans les couches superficielles de l'échantillon et conduire à la désorption d'atomes ou de petits fragments polyatomiques neutres ou chargés (ions secondaires). Ces ions peuvent alors être accélérés et focalisés par des lentilles électrostatiques pour finalement être analysés et «triés» par un spectromètre de masse. L'ensemble du faisceau secondaire conserve la totalité de l'information topologique initiale et il est possible, en sélectionnant un ion particulier, de reconstituer la distribution spatiale de l'élément considéré.  7, record 1, French, - spectrom%C3%A9trie%20de%20masse%20d%27ions%20secondaires

Record number: 1, Textual support number: 2 OBS

microanalyse : Cette graphie, puisée des Rectifications de l'orthographe recommandées par le Conseil supérieur de la langue française, est attestée dans le Petit Robert (2004).  8, record 1, French, - spectrom%C3%A9trie%20de%20masse%20d%27ions%20secondaires

Record 1,  Textual support,  Spanish

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

[...] muy pocas técnicas de caracterización estructural de materiales tienen la capacidad de obtener información relevante con la resolución espacial adecuada. Entre ellas se encuentra la técnica de espectrometría de masas de iones secundarios (en inglés, secondary ion mass spectrometry, SIMS en lo sucesivo). Con esa técnica se puede estudiar la composición química de capas con una resolución en profundidad inferior a un nanómetro […]  1, record 1, Spanish, - espectrometr%C3%ADa%20de%20masas%20de%20iones%20secundarios

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

SIMS: según su sigla en inglés (secondary ion mass spectrometry).  2, record 1, Spanish, - espectrometr%C3%ADa%20de%20masas%20de%20iones%20secundarios

Record 2,  Textual support,  English

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

The study of the distribution of platinum group elements (PGE) and other minor constituents in minerals of ores and processing products was continued. Emphasis was placed on the development of methods of in situ micro-analysis by particle-induced X-ray emissions (micro-PIXE) and secondary ion mass spectroscopy (SIMS).  1, record 2, English, - secondary%20ion%20mass%20spectroscopy

Record 2,  Textual support,  French

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

On a continué d'étudier la distribution des éléments du groupe du platine (EGP) et d'autres éléments mineurs dans les minerais et les produits de traitement. Les travaux ont porté principalement sur la mise au point de méthodes de micro-analyse in situ par émission de rayons X induite par des particules (micro-PIXE) et par spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS).  1, record 2, French, - spectroscopie%20de%20masse%20des%20ions%20secondaires

Record 2,  Textual support,  Spanish

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

SIMS es una técnica para el análisis de superficies [que] utiliza iones para bombardear la muestra, estos iones son llamados iones primarios y pueden ser de carga positiva o negativa. El impacto de los iones produce una erosión que resulta en partículas como átomos, moléculas, iones entre otras. Los iones producto de este bombardeo son llamados iones secundarios, son recolectados y seleccionados de acuerdo a su carga, energía y masa, finalmente son cuantificados.  1, record 2, Spanish, - espectroscop%C3%ADa%20de%20masas%20de%20iones%20secundarios

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

SIMS: según su sigla en inglés (secondary ion mass spectroscopy).  2, record 2, Spanish, - espectroscop%C3%ADa%20de%20masas%20de%20iones%20secundarios