TERMIUM Plus®

La banque de données terminologiques et linguistiques du gouvernement du Canada.

junction depth measurement [1 fiche]

Filtrer les résultats par domaine Liste alphabétique des termes

Filtrer les résultats par domaine

Liste alphabétique des termes

Fiche 1 2001-05-15

Anglais

Subject field(s)
  • Semiconductors (Electronics)
  • Printed Circuits and Microelectronics
CONT

Junction depth measurement uses a testing instrument designed to measure the depth of a semiconductor device after it has been doped. The junction is the region of transition between two different semiconductor regions of a semiconductor device, such as a p-n junction, or between a metal and a semiconductor. There are four types of junctions; alloy, diffused, electrochemical, and grown.

Français

Domaine(s)
  • Semi-conducteurs (Électronique)
  • Circuits imprimés et micro-électronique

Espagnol

Conserver la fiche 1

Avis de droit d’auteur pour la banque de données TERMIUM Plus®

© Services publics et Approvisionnement Canada, 2024
TERMIUM Plus®, la banque de données terminologiques et linguistiques du gouvernement du Canada
Un produit du Bureau de la traduction

Options d’affichage

Changer l'ordre d'affichage des langues officielles du Canada
Affichage des langues non officielles (l'espagnol ou le portugais)
Affichage des définitions, contextes, etc. dans les fiches

En vedette

Portail linguistique du Canada

Accédez à une collection de ressources canadiennes sur tous les aspects du français et de l'anglais, y compris des jeux.

Outils d'aide à la rédaction

Les outils d’aide à la rédaction du Portail linguistique ont fait peau neuve! Faciles à consulter, ils vous donnent accès à une foule de renseignements utiles pour mieux écrire en français et en anglais.

Lexiques et vocabulaires

Accédez aux lexiques et vocabulaires du Bureau de la traduction.

Date de modification :