TERMIUM Plus®
La banque de données terminologiques et linguistiques du gouvernement du Canada.
méthode par injections d'électrons et courant induit [1 fiche]
Fiche 1 - données d’organisme interne 2007-11-13
Fiche 1, Anglais
Fiche 1, Subject field(s)
- Photoelectricity and Electron Optics
- Semiconductors (Electronics)
Fiche 1, La vedette principale, Anglais
- electron beam-induced current analysis
1, fiche 1, Anglais, electron%20beam%2Dinduced%20current%20analysis
correct
Fiche 1, Les abréviations, Anglais
Fiche 1, Les synonymes, Anglais
- EBIC analysis 1, fiche 1, Anglais, EBIC%20analysis
correct
Fiche 1, Justifications, Anglais
Record number: 1, Textual support number: 1 DEF
... a semiconductor analysis technique that employs an electron beam to induce a current within a sample which may be used as a signal for generating images that depict characteristics of the sample, e.g., the locations of p-n junctions in the sample, the presence of local defects, and doping non-homogeneities. 1, fiche 1, Anglais, - electron%20beam%2Dinduced%20current%20analysis
Record number: 1, Textual support number: 1 OBS
Since a scanning electron microscope (SEM) is a convenient source of electron beam for this purpose, most EBIC techniques are performed using a SEM. 1, fiche 1, Anglais, - electron%20beam%2Dinduced%20current%20analysis
Fiche 1, Français
Fiche 1, Domaine(s)
- Photo-électricité et optique électronique
- Semi-conducteurs (Électronique)
Fiche 1, La vedette principale, Français
- méthode par injections d'électrons et courant induit
1, fiche 1, Français, m%C3%A9thode%20par%20injections%20d%27%C3%A9lectrons%20et%20courant%20induit
correct, nom féminin
Fiche 1, Les abréviations, Français
Fiche 1, Les synonymes, Français
Fiche 1, Justifications, Français
Record number: 1, Textual support number: 1 DEF
Technique d'analyse des semiconducteurs qui utilise un faisceau d'électrons pour induire un courant dans un échantillon pouvant servir de signal pour la génération d'images présentant les caractéristiques de l'échantillon, notamment les sites des jonctions p-n de ce dernier ainsi que la présence de défauts locaux et de non-homogénéités de dopage. 2, fiche 1, Français, - m%C3%A9thode%20par%20injections%20d%27%C3%A9lectrons%20et%20courant%20induit
Record number: 1, Textual support number: 1 OBS
[...] souvent appelée méthode de Morton-Hayes, dans le cas d'une injection d'électrons provoquée par le faisceau d'un microscope électronique à balayage. 1, fiche 1, Français, - m%C3%A9thode%20par%20injections%20d%27%C3%A9lectrons%20et%20courant%20induit
Fiche 1, Espagnol
Fiche 1, Justifications, Espagnol
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