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light-induced defect [1 fiche]

Fiche 1 2008-05-05

Anglais

Subject field(s)
  • Semiconductors (Electronics)
DEF

A defect, such as a dangling bond, induced in an amorphous silicon semiconductor upon initial exposure to light.

Français

Domaine(s)
  • Semi-conducteurs (Électronique)
DEF

Dégradation, telle que celle générée par une liaison pendante dans un semiconducteur au silicium amorphe au cours d'une première exposition à la lumière.

CONT

L'effet de la dégradation induite par la lumière (appelé aussi effet Staebler-Wronski) a été observé dans certaines cellules solaires microcristallines. Une étude systématique a permis de montrer que les observations antérieures de la stabilité du silicium microcristallin étaient liées à la grande cristallinité des couches étudiées. Dans les meilleures couches actuelles, qui sont moins cristallines qu'initialement, on retrouve une forme très réduite de dégradation, qui ne devrait guère poser de problèmes pour l'application de ces couches dans des cellules simples microcristallines.

Espagnol

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