TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

When an electron beam strikes the surface of [an] object, secondary electrons are emitted from the object. The secondary electrons are collected by a detector, known as a secondary emission detector (SED). The detected secondary emission is then coordinated with the excitation signals applied to the electron beam to extract an image of the object.  1, fiche 1, Anglais, - secondary%20emission%20detector

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Deux méthodes de détection ont été employées : - L'émission secondaire d'électrons par les neutres rapides dans un détecteur à émission secondaire-scintillation. Ce procédé ne permet pas l'analyse des particules et l'effet photoélectrique en limite l'utilisation. - L'ionisation des neutres rapides par une cellule à gaz (10-2 torr d'hélium), suivie de la détection des ions par un détecteur à émission secondaire-scintillation. L'analyse des particules est alors possible par différentes méthodes : déviation dans un champ électrique ou magnétique, temps de vol.  1, fiche 1, Français, - d%C3%A9tecteur%20%C3%A0%20%C3%A9mission%20secondaire

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol