TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

L'un des attraits majeurs des microscopies à force est la possibilité qu'elles donnent d'obtenir des images d'échantillons isolants. Ceci est particulièrement important lorsque les études sont menées hors ultravide, dans des conditions où même les surfaces métalliques gardent difficilement une bonne conductivité. Cette technique est, d'autre part, beaucoup moins perturbante que la microscopie à effet tunnel, lorsqu'elle est utilisée en milieu électrochimique. Un domaine d'application très important pour ces techniques est celui de l'adhésion et de la friction. Il est en effet possible avec certains MFA [microscopes à forces atomiques] d'enregistrer les mouvements du cantilever dans le plan de la surface, et d'accéder ainsi aux forces de friction à l'échelle atomique.  1, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 PHR

Microscopía de fuerzas bimodal.  1, fiche 1, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20fuerzas