TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions ...  1, fiche 1, Anglais, - noncontact%20atomic%20force%20microscope

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Microscope AFM en régime de non-contact (NC) avec détection par modulation de fréquence. Dans ce type d'instrument, la sonde oscille à sa fréquence propre de l'ordre de 40 kHz. Lorsque la sonde se trouve à proximité immédiate d'une surface de référence, les effets des forces de Van der Waals modifient légèrement cette oscillation. La détection de ces modulations permet de desceller la structure subnanométrique de la surface de référence (l'échantillon). Sont inclus des scanners à tube piezo pour le NC-AFM avec amplificateurs haute tension.  2, fiche 1, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Dans le mode non-contact, la pointe [du microscope] est attirée. Les forces attractives étant très faibles, il faut travailler au froid et sous vide pour éviter l’humidité et l’agitation thermique.  1, fiche 1, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  2, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

El principio de funcionamiento del microscopio de fuerza magnética es, en principio, el de un AFM en régimen de no contacto: un soporte flexible fijado a un extremo y una punta montada en el otro extremo.  4, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

En el modo “sin contacto” el cantilever oscila a una frecuencia próxima a la resonancia y son las interacciones electrostáticas entre punta y muestra las que modifican la oscilación del cantilever (en frecuencia, amplitud o fase).  5, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 2 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  6, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto