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La banque de données terminologiques et linguistiques du gouvernement du Canada.

LOGIC TESTING [3 fiches]

Fiche 1 2016-08-31

Anglais

Subject field(s)
  • Computer Hardware
  • Testing and Debugging
CONT

Logic analyzers... are widely used for testing complex digital or logic circuits. They appeared shortly after the first microprocessors were used because to fault find these circuits required the instrument to have access to a large number of lines, more than could be seen using a conventional oscilloscope.

CONT

A logic analyzer ... displays digital data in a word-versus-time format ...

OBS

Logic analyzers generally fall into three categories: state analyzers, timing analyzers, and trigger generators.

Terme(s)-clé(s)
  • logic analyser

Français

Domaine(s)
  • Matériel informatique
  • Test et débogage
CONT

L'analyseur logique est un instrument extrêmement utile lorsque l'on travaille sur des circuits numériques de grande taille. Il permet de bien visualiser l'effet du délai dans des circuits de différentes technologies [...] à différentes fréquences.

CONT

L'oscilloscope et l'analyseur logique sont normalement deux appareils bien particuliers; le premier pour l'analyse temporelle des signaux, le second pour l'analyse numérique.

Espagnol

Campo(s) temático(s)
  • Equipo físico de computadora (Hardware)
  • Prueba y depuración
Conserver la fiche 1

Fiche 2 - données d’organisme externe 2006-11-27

Anglais

Subject field(s)
  • Nuclear Plant Safety
  • Compartment - Canadian Nuclear Safety Commission
CONT

The two-out-of-three trip logic allows for maintenance and testing at power without any loss of protection.

Français

Domaine(s)
  • Sûreté des centrales nucléaires
  • Tiroir - Commission canadienne de sûreté nucléaire
CONT

La séquence d'arrêt «deux-sur-trois» permet d'effectuer l'entretien et les essais requis en cours d'exploitation sans perte de protection.

Espagnol

Conserver la fiche 2

Fiche 3 2001-07-06

Anglais

Subject field(s)
  • Electrical Measuring Equipment
  • Printed Circuits and Microelectronics
OBS

Because medium-scale integration(MSI) and large-scale integration(LSI) generally imply digital integrated circuits(ICS), equipment intended to test LSI/MSI devices usually comprises a digital test system. Although manually operated benchtop units are available to test digital logic in a production environment, automated test systems are dictated. Thus, in general, LSI/MSI testers are automated, programmable systems that provide sophisticated test patterns at high repetition rates(usually, rated device operating frequency), with precise edge timing and control of all test parameters. Employed primarily for testing at wafer probe and for final package test(interfaced to a wafer prober or a high-speed, sort devices into predetermined categories based upon test performance, and reject defective devices. A current trend-particularly for semiconductor memories-is to integrate test systems with burn-in systems.

Terme(s)-clé(s)
  • large scale integration/medium scale integration tester
  • large scale integration/medium scale integration test equipment

Français

Domaine(s)
  • Appareils de mesures (Électricité)
  • Circuits imprimés et micro-électronique
OBS

LSI signifie «intégration à grande échelle» et MSI «intégration à moyenne échelle.»

Espagnol

Conserver la fiche 3

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