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X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY [2 fiches]

Fiche 1 2017-04-21

Anglais

Subject field(s)
  • Optics
  • Analytical Chemistry
DEF

The spectroscopy of electrons ejected from atoms on irradiation with X-rays.

CONT

Electron Spectroscopy for Chemical Analysis(ESCA) also called X-ray photoelectron spectroscopy is a well demonstrated tool for the determination of chemical states in molecules.... ESCA consists of the measurement of the kinetic energies of photoelectrons expelled from a sample irradiated with monoenergetic X-rays.

PHR

soft X-ray photoelectron spectroscopy

Terme(s)-clé(s)
  • x-ray photo-electron spectroscopy
  • x-ray photo-emission spectroscopy

Français

Domaine(s)
  • Optique
  • Chimie analytique
CONT

La spectroscopie de photoélectrons consiste à analyser en énergie les électrons émis d'une substance irradiée par un rayonnement électromagnétique X ou UV (ultraviolet). [...] La source de photons peut être soit un tube à rayons X (on parle alors d'XPS [X-ray photoelectron spectroscopy]) [...], soit une lampe UV (on parle alors d'UPS [ultra-violet photoelectron spectroscopy]) [...]

CONT

L'avantage de la spectroscopie ESCA est de fournir des informations chimiques uniques ainsi que des informations sur la structure électronique.

Terme(s)-clé(s)
  • spectroscopie de photo-électrons XPS
  • spectroscopie des photo-électrons X
  • spectroscopie des photo-électrons induits par rayonnement X
  • spectroscopie photo-électronique des rayons X

Espagnol

Campo(s) temático(s)
  • Óptica
  • Química analítica
CONT

La espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, XPS o ESCA (espectroscopía electrónica para análisis químico), es el método de caracterización de superficies más ampliamente utilizado hoy en día.

OBS

XPS: según su sigla en inglés (x-ray photoelectron spectroscopy).

OBS

ESCA: según su sigla en inglés (electron spectroscopy for chemical analysis).

Conserver la fiche 1

Fiche 2 2017-02-15

Anglais

Subject field(s)
  • Physics of Solids
  • Radiological Physics (Theory and Application)
  • Electromagnetic Radiation
CONT

Standard AES [Auger Electron Spectroscopy] and XPS [X-ray Photoelectron Spectroscopy] instruments have the ability to sputter argon ions to depth-profile the surfaces of interest, yielding composition as a function of depth. For stainless steel analysis, the total depth of analysis is typically 15 nm [nanometers].

Français

Domaine(s)
  • Physique des solides
  • Physique radiologique et applications
  • Rayonnements électromagnétiques
CONT

Pour mettre en œuvre la spectroscopie Auger induite par des électrons en vue de l’analyse des surfaces solides, il suffit, en principe, de disposer d’une enceinte ultravide équipée d’un canon à électrons et d’un analyseur. Couvrant généralement l’intervalle énergétique de 50 eV [électronvolts] à 2,5 keV [kiloélectronvolts], le spectre des électrons Auger ainsi obtenu garantit une profondeur d’analyse inférieure à 10 nm [nanomètres] et il s’inscrit sur le fond continu des électrons primaires rétrodiffusés et en amont du spectre des électrons secondaires.

Espagnol

Conserver la fiche 2

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