TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

A beam or structural slab projecting beyond its support.  2, fiche 1, Anglais, - cantilever

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

cantilever: term and definition standardized by ISO.  3, fiche 1, Anglais, - cantilever

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Poutre ou dalle saillante au-delà de son appui.  5, fiche 1, Français, - porte%2D%C3%A0%2Dfaux

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

porte-à-faux : terme et définition normalisés par l'ISO.  6, fiche 1, Français, - porte%2D%C3%A0%2Dfaux

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Viga que se proyecta, apoyándose tan sólo por un extremo.  3, fiche 1, Espagnol, - viga%20en%20voladizo

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

cantilever; cantiléver : término de voz inglesa que funciona como adjetivo y como nombre masculino. Su uso pertenece principalmente al área de la arquitectura y de la construcción. El equivalente de "cantilever" en español es el término "voladizo".  4, fiche 1, Espagnol, - viga%20en%20voladizo

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

The contact mode atomic force microscope (AFM) uses a tip that is connected to a cantilever which has a spring constant of about 0.01 - 0.3 N/m.  1, fiche 2, Anglais, - contact%20mode%20atomic%20force%20microscope

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

[...] la version 3100 est composée d’un microscope à force atomique en mode contact ou en mode tapping, mode qui permet d’étudier la surface d’échantillons de toute taille. Elle est équipée de moteurs pas-à-pas qui permettent une étude exhaustive à grande échelle des échantillons.  1, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20contact

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Microscopio de fuerza atómica [...] Tiene resolución de fracciones de angstrom. Su sonda está formada por un cantilever microscópico con una fina punta en su extremo encargada de rastrear la muestra. Puede trabajar en modo "contacto" y en modo "sin contacto". En el primer caso la punta toca la muestra y ésta ejerce una fuerza sobre la primera a medida que la sonda se desplaza sobre la muestra en el plano XY.  1, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 2 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  3, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  4, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions ...  1, fiche 3, Anglais, - noncontact%20atomic%20force%20microscope

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Microscope AFM en régime de non-contact (NC) avec détection par modulation de fréquence. Dans ce type d'instrument, la sonde oscille à sa fréquence propre de l'ordre de 40 kHz. Lorsque la sonde se trouve à proximité immédiate d'une surface de référence, les effets des forces de Van der Waals modifient légèrement cette oscillation. La détection de ces modulations permet de desceller la structure subnanométrique de la surface de référence (l'échantillon). Sont inclus des scanners à tube piezo pour le NC-AFM avec amplificateurs haute tension.  2, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Dans le mode non-contact, la pointe [du microscope] est attirée. Les forces attractives étant très faibles, il faut travailler au froid et sous vide pour éviter l’humidité et l’agitation thermique.  1, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20non%2Dcontact

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  2, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 3, Textual support number: 2 CONT

El principio de funcionamiento del microscopio de fuerza magnética es, en principio, el de un AFM en régimen de no contacto: un soporte flexible fijado a un extremo y una punta montada en el otro extremo.  4, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

En el modo “sin contacto” el cantilever oscila a una frecuencia próxima a la resonancia y son las interacciones electrostáticas entre punta y muestra las que modifican la oscilación del cantilever(en frecuencia, amplitud o fase).  5, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Record number: 3, Textual support number: 2 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  6, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20sin%20contacto

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

A device in which the deflection of a sharp stylus mounted on a soft spring is monitored as the stylus is moved across a surface.  5, fiche 4, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

Unlike the STM, the AFM [Atomic Force Microscope] can scan nonconducting samples. It can do this because it uses optical technology, direct contact, and a laser, to sense the position of the tip in relation to the sample. The tip is very sharp and protrudes from a small flexible cantilever. The laser reflects off the top side of the tip and is directed to a split photodiode. The height of the surface of the sample deflects the cantilever causing the position of the laser on the photodiode to change. The difference in voltage from the photodiode elements provide a "picture" of the surface.  6, fiche 4, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Fiche 4,  Justifications,  Français

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

Microscope où une pointe très fine se déplaçant à la surface de l'échantillon étudié, enregistre, grâce à un dispositif d'asservissement, la force d'interaction de Van der Waals entre la pointe sondeuse et la surface de l'échantillon.  5, fiche 4, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

Le microscope à force atomique est un microscope à palpeur, c'est-à-dire que la sonde est en interaction mécanique (attractive ou répulsive) avec la surface à caractériser.  6, fiche 4, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

Microscopio de proximidad basado en la detección de la fuerza que actúa entre la punta del microscopio y una [superficie] metálica o aislante [...] monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm [nanómetros] que se localiza al final de un cantilever.  1, fiche 4, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerzas atómicas […] fue inventado en el año 1986 por G. Binning, C. Quate y Ch. Gerber como un instrumento capaz de obtener con gran resolución imágenes de la topografía de una superficie.  2, fiche 4, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Fiche 5,  Justifications,  Anglais

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

A brake consisting of two brake blocks which are drawn towards each other through a central pivot and which grip the rim of the wheel.  2, fiche 5, Anglais, - calliper%20brake

Fiche 5,  Justifications,  Français

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Les freins Cantilever d'origine comportent un câble en V reliant les deux mâchoires par le biais d'un crochet-support, métallique lui-même relié au câble de frein.  3, fiche 5, Français, - frein%20cantilever

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol