TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

... while some laser granulometry instruments are capable of analysing a wide range of particle sizes from clay to sands.  2, fiche 1, Anglais, - laser%20granulometry

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

La granulométrie laser est une technique basée sur la diffraction de la lumière(Théorie de Fraunhofer) : Lorsqu'un faisceau laser éclaire une particule, on peut observer des franges de diffraction. Selon Fraunhofer, l'intensité du rayonnement diffracté et l'angle de diffraction sont fonction de la taille des particules. Plus la particule est petite, plus l'angle de diffraction est grand.  3, fiche 1, Français, - granulom%C3%A9trie%20laser

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

Analyses granulométriques (...) d’autres méthodes peuvent être utilisées, en particulier la granulométrie à laser (à condition de l’étalonner par comparaison avec une granulométrie par tamisage sur le même matériau).  2, fiche 1, Français, - granulom%C3%A9trie%20laser

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 DEF

The study of the structure of metals and alloys by various methods, especially by optical and electron microscopy.  1, fiche 2, Anglais, - metallography

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 DEF

Technique relative à l'observation de la structure des métaux et alliages à l'œil nu ou à l'aide d’instruments d’observation divers : loupe, microscope optique, microscope électronique, techniques de diffraction de rayons X.  1, fiche 2, Français, - m%C3%A9tallographie

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 DEF

... a fluorescence microscopy technique that overcomes the diffraction limited resolution of confocal microscopes.  2, fiche 3, Anglais, - stimulated%20emission%20depletion%20microscopy

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

The resolution enhancement is essentially based on switching off the fluorescence of dye molecules by stimulated emission using intense laser light in the outer regions of the diffraction limited excitation focus. ... Fluorescence from the remaining excited dye molecules in the center of the excitation focus is then detected and used to form the high resolution images.  2, fiche 3, Anglais, - stimulated%20emission%20depletion%20microscopy

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

La microscopie STED(stimulated-emission-depletion ou déplétion par émission stimulée) est une microscopie de fluorescence à balayage dont l'illumination est mise en forme pour dépasser la limite de résolution imposée par la diffraction. Cette limite est dépassée en utilisant l'émission stimulée pour éliminer la fluorescence dans les régions extérieures de la réponse impulsionnelle optique d’excitation. La largeur de la zone centrale pouvant encore émettre de la lumière est ajustée grâce à la saturation de la fluorescence. Cette technique permet d’atteindre une résolution de 2, 4 nm [nanomètres] en champ lointain.  3, fiche 3, Français, - microscopie%20de%20fluorescence%20%C3%A0%20d%C3%A9pl%C3%A9tion%20par%20%C3%A9mission%20stimul%C3%A9e

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

Any technique which utilizes the diffraction of X-rays generated in a microstructural domain of a solid under bombardment with a finely focused electron beam, thus providing an X-ray diffraction pattern of this microstructural domain. The pattern can be recorded with a film either on the reflection or transmission side of the specimen (in the latter case the crystalline sample has to be a thin film or a small particle).  1, fiche 4, Anglais, - in%20situ%20micro%2Dx%2Dray%20diffraction

Fiche 4,  Justifications,  Français

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

[...] technique qui permet d’obtenir le diagramme de diffraction des rayons x d’un échantillon, engendrés dans la microstructure du solide que l'on bombarde avec un faisceau d’électrons bien focalisé. Le diagramme est établi au moyen d’un film, soit par réflexion, soit par transmission, selon que l'échantillon est placé d’un côté ou de l'autre. Dans ce dernier cas l'échantillon cristallin doit être un film fin ou une petite particule.  2, fiche 4, Français, - microdiffraction%20des%20rayons%20X%20in%20situ

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Fiche 5,  Justifications,  Anglais

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Analysis of the crystal structure of materials by passing X-rays through them and registering the diffraction (scattering) image of the rays.  4, fiche 5, Anglais, - X%2Dray%20diffraction%20analysis

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

Qualitative X-ray diffraction (XRD) analysis is used to identify minerals based on their crystal structure. We provide standard XRD analysis as well as clay XRD analysis, which involves processing the sample to produce diagnostic changes in clay XRD peak positions and sizes.  5, fiche 5, Anglais, - X%2Dray%20diffraction%20analysis

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

X-ray diffraction analysis: term used at Natural Resources Canada - Earth Sciences Sector.  6, fiche 5, Anglais, - X%2Dray%20diffraction%20analysis

Fiche 5,  Justifications,  Français

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Technique d’analyse basée sur la diffraction des rayons X sur la matière.  2, fiche 5, Français, - diffractom%C3%A9trie%20de%20rayons%20X

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

L’analyse par diffraction des rayons X est l’une des méthodes les plus utilisées pour identifier les minéraux. Elle est surtout utilisée pour l’identification des minéraux argileux, en raison de leur taille se situant en dessous 0,1 micron. La méthode est basée sur la loi de Bragg utilisant les distances interatomiques de chaque minéral analysé. Le diffractogramme en est la représentation graphique.  3, fiche 5, Français, - diffractom%C3%A9trie%20de%20rayons%20X

Record number: 5, Textual support number: 2 CONT

Analyse par diffraction X. L’analyse par diffraction des rayons X ou diffractométrie X permet de déterminer les distances interatomiques et l’arrangement des atomes dans les réseaux cristallins. Comme les rayons X sont diffractés de façon différente par les éléments du réseau suivant la construction de ce dernier, l’irradiation de la matière par rayons X permet de connaître sa nature cristallographique.  4, fiche 5, Français, - diffractom%C3%A9trie%20de%20rayons%20X

Record number: 5, Textual support number: 3 CONT

Une telle hétérogénéité minéralogique ne peut être mise en évidence que par une analyse DRX; elle est, par ailleurs, fonction de l’appartenance stratigraphique des couches argileuses.  6, fiche 5, Français, - diffractom%C3%A9trie%20de%20rayons%20X

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

diffractométrie de rayons X; diffractométrie X : termes en usage à Ressources naturelles Canada - Secteur des sciences de la Terre.  8, fiche 5, Français, - diffractom%C3%A9trie%20de%20rayons%20X

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol

Fiche 6,  Justifications,  Anglais

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

WDXRF (wavelength dispersive X-ray fluorescence) separation is achieved by diffraction, using an analyzer crystal that acts as a grid. The specific lattice of the crystal selects the correct wavelengths according to Bragg's Law.  1, fiche 6, Anglais, - analyzer%20crystal

Fiche 6,  Justifications,  Français

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

La spectrométrie de fluorescence X à dispersion de longueurs d’ondes(WD-XRF) est une technique d’analyse multi-élémentaire non destructive. […] Son principe de fonctionnement est le suivant : lorsque la matière est bombardée par un flux de photons X d’énergie suffisante, elle émet des rayons de même nature, caractéristiques des éléments qui la constituent. C'est le phénomène de fluorescence X. La séparation des raies d’émission est réalisée par diffraction sélective sur un cristal analyseur(application de la loi de Bragg). Le nombre de photons émis est alors mesuré par un compteur proportionnel.  2, fiche 6, Français, - cristal%20analyseur

Fiche 6,  Justifications,  Espagnol

Fiche 7,  Justifications,  Anglais

Record number: 7, Textual support number: 1 DEF

The scattering of x-rays by matter, especially crystals, with accompanying variation in intensity due to interference effects.  3, fiche 7, Anglais, - X%2Dray%20diffraction

Record number: 7, Textual support number: 1 OBS

X-ray diffraction: term used at Natural Resources Canada - Earth Sciences Sector.  4, fiche 7, Anglais, - X%2Dray%20diffraction

Fiche 7,  Justifications,  Français

Record number: 7, Textual support number: 1 DEF

Technique qui permet de déduire la structure moléculaire d’une substance par l'étude de la diffraction d’un faisceau de rayons X au moyen d’un cristal de la substance.  2, fiche 7, Français, - diffraction%20des%20rayons%20X

Fiche 7,  Justifications,  Espagnol

Record number: 7, Textual support number: 1 DEF

Difracción de radiación electromagnética cuya longitud de onda es similar a la distancia entre los átomos de los cristales, por lo que es difractada por éstos.  2, fiche 7, Espagnol, - difracci%C3%B3n%20de%20rayos%20X

Fiche 8,  Justifications,  Anglais

Record number: 8, Textual support number: 1 CONT

The perturbed angular correlation spectroscopy is sensitive to the charge distribution around a probe atom on an atomic scale. If such a probe atom is part of an electrically active complex, the charge transition can be observed directly.  1, fiche 8, Anglais, - probe%20atom

Fiche 8,  Justifications,  Français

Record number: 8, Textual support number: 1 CONT

Diffraction-diffusion anomale. Une des caractéristiques essentielles du rayonnement synchrotron est sa continuité spectrale. Celle-ci est mise à profit pour la technique de diffusion anomale qui consiste à collecter des données de diffraction ou de diffusion en faisant varier l'énergie des photons X autour d’un seuil d’absorption d’un élément du matériau. Autour du seuil, l'amplitude diffusée par l'atome analysé présente des variations brutales non monotones, avec déphasage, ce qui provoque des variations d’intensité importantes entre les faisceaux diffractés ou diffusés à différentes longueurs d’onde autour du seuil. Ces variations qui proviennent exclusivement des atomes absorbeurs renseignent sur leurs positions mutuelles; les atomes absorbeurs jouent donc le rôle d’atomes-sondes.  1, fiche 8, Français, - atome%2Dsonde

Fiche 8,  Justifications,  Espagnol

Fiche 9,  Justifications,  Anglais

Record number: 9, Textual support number: 1 CONT

Electron backscattered diffraction in a scanning electron microscope allows the crystallographic orientation of small grains to be measured precisely. EBSD can be used to study crystallographic preferred orientations, grain boundary and twin characteristics, to quantitatively map grain microstructures and for characterisation of fine-grained phases. We are using the EBSD to investigate the microstructural and crystallographic signatures of deformation recrystallisation and reaction processes in rocks.  1, fiche 9, Anglais, - electron%20backscattered%20diffraction

Fiche 9,  Justifications,  Français

Record number: 9, Textual support number: 1 CONT

A l'échelle mésoscopique, la diffraction des électrons rétrodiffusés(EBSD : Electron BackScattered Diffraction) permet, en mode automatique, de reconstruire la microstructure en termes d’orientations à partir de l'indexation de diagrammes de Kikuchi. Cette technique de microscopie à imager les orientations [...] est particulièrement bien adaptée à l'étude de la croissance granulaire [...]  2, fiche 9, Français, - diffraction%20des%20%C3%A9lectrons%20r%C3%A9trodiffus%C3%A9s

Fiche 9,  Justifications,  Espagnol

Fiche 10,  Justifications,  Anglais

Fiche 10,  Justifications,  Français

Record number: 10, Textual support number: 1 CONT

NAOS n’ est pas un instrument indépendant, mais une bonnette qui sera installée entre un instrument et le télescope. Sa caractéristique est de corriger, grâce à la technique de l'optique adaptative, des effets de l'atmosphère qui déforme les images et en réduit la résolution angulaire. Cette bonnette, qui pourrait être installée sur n’ importe quel foyer Nasmyth, sera placée devant l'instrument CONICA. Grâce à NAOS, CONICA sera capable d’acquérir des images d’une résolution inégalée(~0. 01"), proche de la résolution théorique du télescope(limite de diffraction).  3, fiche 10, Français, - syst%C3%A8me%20de%20correction%20des%20perturbations

Record number: 10, Textual support number: 1 OBS

NAOS (Nasmyth Adaptative Optics System) est un projet de l’ESO (European Southern Observatory) pour le VLT (Very Large Telescope Array, ensemble de 4 télescopes de 8 m de diamètre construits dans les Andes chiliennes).  4, fiche 10, Français, - syst%C3%A8me%20de%20correction%20des%20perturbations

Fiche 10,  Justifications,  Espagnol

Fiche 11,  Justifications,  Anglais

Record number: 11, Textual support number: 1 CONT

Digitalisation of silicon carbide particles [serves] us to monitor movement of particles and to calculate the local deformation tensor F with the program "marker analysis" ...  1, fiche 11, Anglais, - local%20deformation%20tensor

Fiche 11,  Justifications,  Français

Record number: 11, Textual support number: 1 DEF

Matrice carrée à neuf dérivées partielles exprimant les contraintes subies par un solide déformé.  1, fiche 11, Français, - tenseur%20local%20de%20d%C3%A9formation

Record number: 11, Textual support number: 1 OBS

L'étude des contraintes internes par diffraction de neutrons se fait au LLB en étroite collaboration avec l'Université de Reims, l'INFM(Italie) et le KFK Karlsruhe(Allemagne). C'est un secteur qui fait l'objet d’une forte demande industrielle : en effet, c'est actuellement la seule technique non destructive de détermination du tenseur local de déformation dans une pièce massive, avec actuellement une résolution spatiale de l'ordre du mm3; dans le cas fréquent d’un comportement élastique, on peut alors déterminer le tenseur local des contraintes internes. La connaissance de ces contraintes est dans beaucoup d’applications industrielles particulièrement importantes pour les calculs de tenue en fatigue des pièces.  2, fiche 11, Français, - tenseur%20local%20de%20d%C3%A9formation

Fiche 11,  Justifications,  Espagnol

Fiche 12,  Justifications,  Anglais

Record number: 12, Textual support number: 1 DEF

Any technique which is based on the diffraction of high energy electrons ... in crystalline materials and evaluation of the angular distribution of the transmitted electrons.  1, fiche 12, Anglais, - transmission%20high%20energy%20electron%20diffraction

Record number: 12, Textual support number: 1 OBS

The diffraction pattern represents an image of the reciprocal lattice and therefore contains information about crystal structure.  1, fiche 12, Anglais, - transmission%20high%20energy%20electron%20diffraction

Record number: 12, Textual support number: 2 OBS

This technique is often called selected area electron diffraction (SAED). For consistency with other electron diffraction techniques however the THEED is recommended.  1, fiche 12, Anglais, - transmission%20high%20energy%20electron%20diffraction

Fiche 12,  Justifications,  Français

Record number: 12, Textual support number: 1 DEF

Toute technique fondée sur la diffraction d’électrons de hautes énergies [...] par des matériaux cristallins et l'évaluation de la distribution angulaire des électrons transmis.  1, fiche 12, Français, - diffraction%20d%27%C3%A9lectrons%20transmis%20de%20haute%20%C3%A9nergie

Record number: 12, Textual support number: 1 OBS

Le diagramme de diffraction représente une image du réseau réciproque et il contient donc des informations sur la structure cristalline.  1, fiche 12, Français, - diffraction%20d%27%C3%A9lectrons%20transmis%20de%20haute%20%C3%A9nergie

Record number: 12, Textual support number: 2 OBS

On désigne souvent cette technique sous le nom de diffraction(fine) d’électrons transmis de haute énergie(SAED). Afin de rendre la nomenclature cohérente avec celle des autres techniques de diffraction, il est plutôt recommandé d’utiliser ici l'expression "diffraction d’électrons transmis de haute énergie"(THEED).  1, fiche 12, Français, - diffraction%20d%27%C3%A9lectrons%20transmis%20de%20haute%20%C3%A9nergie

Fiche 12,  Justifications,  Espagnol

Fiche 13,  Justifications,  Anglais

Record number: 13, Textual support number: 1 CONT

A good indication of the positions of nearly all the non-hydrogen atoms in a protein can be obtained from a structure solved to a resolution of 3.0 A or better. Such a study involves a series of stages. Firstly, tens of milligrams of the protein must be isolated in pure form, and then crystals of millimeter dimensions must be grown which diffract X-rays to high resolution. However, reconstruction of the electron density of the molecule from diffraction data requires information about the amplitude and the phase of the X-ray reflections. To solve the phase problem, diffraction data from at least one heavy-metal derivative of the protein must be measured. Thus an electron density map of the molecule can be calculated.  1, fiche 13, Anglais, - electron%20density%20map

Fiche 13,  Justifications,  Français

Record number: 13, Textual support number: 1 CONT

L'analyse par diffraction des rayons X est réalisée sur un cristal d’enzyme. Il ne s’agit au fond que d’un problème de géométrie cotée : on précise la position des atomes dans la molécule en recherchant les maxima de densité électronique. Muni de ces renseignements, on rétablit la structure de la molécule dans un espace à trois dimensions. Cette technique demande de très nombreux diagrammes de diffraction, sous différents angles et à différents degrés de résolution. Elle conduit, après d’importants calculs à l'aide d’ordinateurs, à la constitution de cartes de densité électronique à deux dimensions.  1, fiche 13, Français, - carte%20de%20densit%C3%A9%20%C3%A9lectronique

Fiche 13,  Justifications,  Espagnol

Fiche 14,  Justifications,  Anglais

Record number: 14, Textual support number: 1 CONT

Low energy electron diffraction (LEED). A term applied to photoelectron spectroscopy involving electrons of low power. It is used particularly for the study of surface layers. Electrons with energies between 0-500 eV are diffracted from the crystal surface ... LEED has been responsible for showing substantial differences between surface structures and those occurring at depth in materials.  1, fiche 14, Anglais, - surface%20layer

Fiche 14,  Justifications,  Français

Record number: 14, Textual support number: 1 CONT

Les expériences de diffraction des électrons ne peuvent donc concerner que des couches très minces de matière. De ce fait, les électrons constituent l'outil de choix pour l'étude des couches superficielles qui ne peuvent être observées avec aucune autre technique de diffraction.  1, fiche 14, Français, - couche%20superficielle

Fiche 14,  Justifications,  Espagnol

Fiche 15,  Justifications,  Anglais

Record number: 15, Textual support number: 1 OBS

A list of instruments used in the restoration of art works.  1, fiche 15, Anglais, - X%2Dray%20diffractometer

Fiche 15,  Justifications,  Français

Record number: 15, Textual support number: 1 OBS

La diffraction des rayons X. L'analyse de la structure cristalline s’effectue au moyen de la diffraction de rayons X. Cette technique permet d’analyser les pigments à partir de leur structure atomique tridimensionnelle.  2, fiche 15, Français, - diffractom%C3%A8tre%20%C3%A0%20rayons%20X

Fiche 15,  Justifications,  Espagnol