TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Multifactor authentication (MFA) is a security technology that requires multiple methods of authentication from independent categories of credentials to verify a user's identity for a login or other transaction. Multifactor authentication combines two or more independent credentials: what the user knows, such as a password; what the user has, such as a security token; and what the user is, by using biometric verification methods.  3, fiche 1, Anglais, - multi%2Dfactor%20authentication

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Confirmation de l'identité déclarée d'un utilisateur en utilisant au moins deux composantes d'identification qui ne font pas partie de la même catégorie.  7, fiche 1, Français, - authentification%20multifacteur

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Les composantes d'identification («facteurs d'authentification») entrent habituellement dans l'une des catégories suivantes : quelque chose que l'utilisateur sait (p. ex. un mot de passe), quelque chose qui est inhérent à l'utilisateur (p. ex. une empreinte digitale) ou quelque chose que l'utilisateur possède (p. ex. un dispositif devant être connecté à l'ordinateur utilisé).  7, fiche 1, Français, - authentification%20multifacteur

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Atomic-force microscopy is similar to scanning-tunneling microscopy (STM) in that it can image surfaces at atomic-scale resolution. The difference between AFM and STM is that AFM does not require that the sample be an electrically conducting material. Like STM, it uses an atomically-sharp tip that is brought very close to the surface. The tip will feel a chemical attraction or repulsion and will move up or down on its supporting cantilever. This movement is monitored by an optical laser beam as the tip is moved laterally across the surface. As in STM, rastering the tip across the surface produces a topographic map of the surface.  3, fiche 2, Anglais, - atomic%20force%20microscopy

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 DEF

Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s'exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l'échantillon.  4, fiche 2, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

La microscopie à force atomique (AFM : «atomic force microscopy») a été introduite en 1986 par G. Binnig, C.F. Quate et C. Gerber, comme une application du concept de microscope à effet tunnel (STM : «scanning tunneling microscope») [...] permettant l'étude de surfaces de matériaux isolants à l'échelle atomique. En combinant les principes du microscope à effet tunnel et du stylet profilométrique, les auteurs démontraient la possibilité d'imager, à l'air libre, la surface d'échantillons conducteurs ou non, avec une résolution latérale de 30 Å [angström] et une résolution verticale inférieure à 1 Å. La technique a, depuis lors, été adaptée à différents environnements tels que le vide, le milieu liquide, les basses températures, les champs magnétiques et aussi pour des applications en chimie ou en biologie. L'AFM est basée sur la mesure des forces entre un fin stylet et la surface étudiée. Le capteur de force est un ressort-lame (stylet) encastré à une extrémité et muni d'une pointe à l'autre extrémité; il est encore appelé «cantilever». Les forces d'interaction modifient la déflection ou la torsion statique ou oscillante du stylet. La mesure des déformations du «cantilever» dans les microscopes de force actuels s'effectue, le plus souvent, grâce à la déviation d'un faisceau lumineux («diode laser») réfléchi par l'extrémité du stylet, méthode proposée dès 1988 par G. Meyer et N. Amer [...] La majorité des utilisateurs cherche à obtenir des formes ou des tailles caractéristiques de la surface; en balayant l'échantillon sous le «cantilever», on obtient l'image AFM recherchée. Mais on s'est très vite aperçu qu'il était possible avec le même instrument de proposer des situations originales de «physique au nanomètre».  5, fiche 2, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

microscopie à force atomique; MFA : désignations et définition publiées au Journal officiel de la République française le 28 janvier 2020.  6, fiche 2, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Microscopía de fuerzas atómicas (AFM). Este tipo de microscopía pertenece a la familia de las microscopías de campo próximo y es, junto con el microscopio túnel de barrido, el sistema de análisis superficial de más resolución (superior a 1 nm [nanómetro]) […]  1, fiche 2, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20fuerzas%20at%C3%B3micas

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

AFM por sus siglas en inglés.  2, fiche 2, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20fuerzas%20at%C3%B3micas

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 DEF

A device in which the deflection of a sharp stylus mounted on a soft spring is monitored as the stylus is moved across a surface.  5, fiche 3, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Unlike the STM, the AFM [Atomic Force Microscope] can scan nonconducting samples. It can do this because it uses optical technology, direct contact, and a laser, to sense the position of the tip in relation to the sample. The tip is very sharp and protrudes from a small flexible cantilever. The laser reflects off the top side of the tip and is directed to a split photodiode. The height of the surface of the sample deflects the cantilever causing the position of the laser on the photodiode to change. The difference in voltage from the photodiode elements provide a "picture" of the surface.  6, fiche 3, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 DEF

Microscope où une pointe très fine se déplaçant à la surface de l'échantillon étudié, enregistre, grâce à un dispositif d'asservissement, la force d'interaction de Van der Waals entre la pointe sondeuse et la surface de l'échantillon.  5, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Le microscope à force atomique est un microscope à palpeur, c'est-à-dire que la sonde est en interaction mécanique (attractive ou répulsive) avec la surface à caractériser.  6, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 DEF

Microscopio de proximidad basado en la detección de la fuerza que actúa entre la punta del microscopio y una [superficie] metálica o aislante [...] monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm [nanómetros] que se localiza al final de un cantilever.  1, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerzas atómicas […] fue inventado en el año 1986 por G. Binning, C. Quate y Ch. Gerber como un instrumento capaz de obtener con gran resolución imágenes de la topografía de una superficie.  2, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

We are the largest organization in the world representing the interests of professional musicians. Whether negotiating fair agreements, protecting ownership of recorded music, securing benefits such as health care and pension, or lobbying our legislators, the AFM is committed to raising industry standards and placing the professional musician in the foreground of the cultural landscape.  1, fiche 4, Anglais, - American%20Federation%20of%20Musicians

Fiche 4,  Justifications,  Français

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Fiche 5,  Justifications,  Français

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol

Fiche 6,  Justifications,  Anglais

Record number: 6, Textual support number: 1 OBS

UD-1 1994: U.S. Department of National Defense Dictionary of Military and Associated Terms. Includes U.S. acronyms and abbreviations and NATO terms (English only).  2, fiche 6, Anglais, - Air%20Force%20Manual

Fiche 6,  Justifications,  Français

Fiche 6,  Justifications,  Espagnol

Fiche 7,  Justifications,  Français

Fiche 7,  Justifications,  Espagnol