TERMIUM Plus^®

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

The AFM can operate in either a "constant force" mode or a "constant height" mode. ... The constant height mode keeps the sample at a set height then measures the deflection of the laser on the photodiode.  2, fiche 2, Anglais, - atomic%20force%20microscope%20in%20constant%20height%20mode

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Microscope à force atomique. [...] De même que pour le STM [microscope à effet tunnel], on distingue deux types de fonctionnement : [...] a) Balayage à hauteur constante : durant la mesure, on maintient l'échantillon à une altitude constante et on enregistre le mouvement vertical du levier. Dans ce mode de fonctionnement, c'est l'inertie du levier qui impose la vitesse de déplacement de l'échantillon. Si la vitesse venait à être trop élevée, la pointe n'arriverait pas à suivre fidèlement les contours de la surface d'où une déformation de l'image, et même des dommages éventuels sur l'objet.  2, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20hauteur%20constante

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). [...] Modos de operación. [...] Modo de contacto. [...] Dos modos de operación: (i) fuerza constante (piezo en z mueve a la muestra para mantener la deflexión constante) (ii) altura constante (mantiene z constante y mide la deflexión).  2, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto%20de%20altura%20constante

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

The AFM can operate in either a "constant force" mode or a "constant height" mode. In the constant force mode, the DSP [digital signal processor] adjusts the height of the sample under the tip based on the deflection error signal, thus keeping the force constant. This is particularly useful if you must maintain a minimum or maximum force to an object.  2, fiche 3, Anglais, - atomic%20force%20microscope%20in%20constant%20force%20mode

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Microscope à force atomique. [...] De même que pour le STM [microscope à effet tunnel], on distingue deux types de fonctionnement : [...] a) Balayage à hauteur constante [...] b) Balayage à force constante : À l'instar du STM, on essaie de maintenir la force constante durant toute la mesure, c'est-à-dire de déplacer l'objet dans les trois directions de l'espace. Les informations spatiales sont ensuite converties et transmises à un processeur d'image et visualisées sur un écran vidéo en affectant aux différentes altitudes des niveaux de gris donnés. La vitesse de balayage est ici uniquement limitée par la vitesse de réaction de la céramique piézo-électrique.  2, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20force%20constante

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). [...] Modos de operación. [...] Modo de contacto. [...] Dos modos de operación: (i) fuerza constante (piezo en z mueve a la muestra para mantener la deflexión constante) (ii) altura constante (mantiene z constante y mide la deflexión).  2, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto%20de%20fuerza%20constante

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

... the scanning thermal microscope ... The microscope's probe may be the world's tiniest thermometer: it can measure surface-temperature variations of a ten-thousandth of a degree on a scale of tens of nanometers. The probe consists of a tungsten wire ending in a point perhaps 30 nanometers across. The wire is coated with a second metal, nickel, which is separated from the tungsten by a layer of insulator everywhere except at the tip of the probe. The tungsten-nickel junction acts as a thermocouple, generating a voltage proportional to its temperature.  2, fiche 4, Anglais, - scanning%20thermal%20microscope

Fiche 4,  Justifications,  Français

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Les techniques de microscopie thermique à champ proche sont récentes et n'ont trouvé des applications qu'essentiellement qualitatives. Nous utilisons la pointe thermique thermo-résistive du microscope thermique à balayage.  1, fiche 4, Français, - microscope%20thermique%20%C3%A0%20balayage

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Otros microscopios de barrido con sondas: [el] microscopio de barrido térmico mide la conductividad térmica de la superficie del espécimen y de esta manera se obtiene información sobre la topografía [de la muestra].  1, fiche 4, Espagnol, - microscopio%20de%20barrido%20t%C3%A9rmico

Fiche 5,  Justifications,  Anglais

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

We present a novel technique in which a reflection scanning near-field optical microscope (SNOM) is used for direct writing of nano-scale patterns into hydrogen-passivated silicon surfaces. The reflection SNOM is operated as a combined shear-force/near-field microscope enabling simultaneous imaging of topographical and optical properties with subwavelength resolution. ... Beside high resolution optical imaging (<50 nm) and patterning of hydrogen-passivated silicon surfaces, the SNOM can also be used for transferring nano-scale patterns into ordinary photo resist with a typical resolution of 50-100 nm. The SNOM thereby overcomes the far-field diffraction limit of conventional photolithography.  5, fiche 5, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Record number: 5, Textual support number: 2 CONT

Near-field scanning optical microscope [...] In this case the standard AFM [atomic force microscope] cantilever is replaced by something that can act as a waveguide for light (typically an optical fibre). Light is passed through the waveguide onto the sample and resulting light is detected via various means ...  3, fiche 5, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Fiche 5,  Justifications,  Français

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

Microscope optique à balayage à champ proche. Il est possible d'éviter la limitation de résolution due aux conditions d'Abbe pour caractériser plus finement la microgéométrie de surface. Grâce à une fibre optique, on éclaire la surface par un très fin pinceau en incidence évanescente et l'on recueille la lumière diffractée; en balayant la surface on construit ainsi une image point par point.  1, fiche 5, Français, - microscope%20optique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20champ%20proche

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

[...] a principios de 1980 se inventó el microscopio óptico de barrido de campo cercano (SNOM o NSOM), en el que una fuente de luz nanoscópica, generalmente una punta de fibra óptica con una apertura más pequeña de 100 nm, barre la superficie de la muestra en la región llamada "campo óptico cercano".  2, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Estos microscopios rastrean la muestra mediante un haz de luz que se emite (o se recibe, según el diseño) a través de una pequeña abertura situada en el extremo de la punta de la sonda, que no es más que una pequeña fibra óptica cubierta de un metal que refleja la luz y evita pérdidas. El diámetro de la abertura y la distancia sonda-muestra tienen dimensiones similares e inferiores a la longitud de onda de la luz que se emplea.  3, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 5, Textual support number: 2 OBS

SNOM: según su sigla en inglés (scanning near-field optical microscope).  4, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 5, Textual support number: 3 OBS

NSOM: según su sigla en inglés (near-field scanning optical microscope).  4, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Fiche 6,  Justifications,  Anglais

Record number: 6, Textual support number: 1 DEF

An instrument similar to an electron microscope in that a beam of electrons is used to scan the surface of a specimen.  6, fiche 6, Anglais, - scanning%20electron%20microscope

Record number: 6, Textual support number: 1 OBS

The beam is moved in a point-to-point manner over the surface of the specimen. These electrons are deflected, collected, accelerated, and directed against a scintillator. The large number of photons thus created are converted into an electric signal that, in turn, modulates the beam scanning the surface of the specimen. The image produced appears to be three-dimensional and lifelike.  6, fiche 6, Anglais, - scanning%20electron%20microscope

Fiche 6,  Justifications,  Français

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

Microscope électronique à balayage (MEB) [...] Un faisceau d'électrons mitraille l'échantillon. Au contact de la surface, le faisceau perd de l'énergie, et émet des électrons secondaires, des rayons X, de la lumière. Or l'intensité de ces électrons secondaires dépend de la nature du point bombardé et du relief, ce qui permet, après analyse, de construire une image. On voit ainsi la surface des bactéries, pollens, cristaux...  7, fiche 6, Français, - microscope%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20balayage

Fiche 6,  Justifications,  Espagnol

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

Los microscopios electrónicos de barrido se fundan en el mismo principio de la visión natural y proporcionan imágenes extraordinariamente detalladas de objetos opacos. [...] Un haz primario de electrones caracterizado por su fineza barre la superficie del objeto [...] punto por punto y línea por línea. Así herido por el haz, cada uno de los puntos emite electrones secundarios que, debidamente colectados, forman una señal que modula el haz catódico de un catoscopio de televisión. Este haz barre la pantalla luminiscente en sincronismo con el haz primario y forma en ella la imagen del objeto considerablemente ampliado.  2, fiche 6, Espagnol, - microscopio%20electr%C3%B3nico%20de%20barrido

Fiche 7,  Justifications,  Anglais

Record number: 7, Textual support number: 1 CONT

The scanning transmission electron microscope. Scanning transmission electron microscopy (STEM) combines the principles of transmission electron microscopy and scanning electron microscopy and can be performed on either type of instrument.  4, fiche 7, Anglais, - scanning%20transmission%20electron%20microscope

Fiche 7,  Justifications,  Français

Record number: 7, Textual support number: 1 CONT

Après un rappel embryologique concernant la formation de la dentine et de la pulpe, ces deux tissus sont étudiés à l'aide des techniques histologiques de routine, de l'usure dentaire et du microscope électronique à transmission et à balayage.  3, fiche 7, Français, - microscope%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20transmission%20et%20%C3%A0%20balayage

Fiche 7,  Justifications,  Espagnol

Record number: 7, Textual support number: 1 CONT

[En el] Laboratorio de Nanocaracterización [se instaló un] microscopio electrónico de transmisión y barrido (STEM) de alta resolución con emisión de campo [...], con capacidad de realizar análisis de energía dispersada y de pérdidas de energía [...] así como realizar imágenes en tres dimensiones por tomografía.  1, fiche 7, Espagnol, - microscopio%20electr%C3%B3nico%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Record number: 7, Textual support number: 1 OBS

STEM: por su sigla en inglés (scanning transmission electron microscope).  3, fiche 7, Espagnol, - microscopio%20electr%C3%B3nico%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Fiche 8,  Justifications,  Anglais

Fiche 8,  Justifications,  Français

Record number: 8, Textual support number: 1 DEF

Microscope permettant l'établissement de la cartographie des variations du potentiel chimique à la surface d'un échantillon constitué d'un matériau conducteur ou semi-conducteur.  2, fiche 8, Français, - microscope%20%C3%A0%20balayage%20du%20potentiel%20chimique

Record number: 8, Textual support number: 1 CONT

[...] Un nouvel appareil mis au point par deux chercheurs du Centre New-Yorkais de recherche IBM T.J. Watson, vient aujourd'hui compléter cette famille d'instruments [...] Il s'agit du microscope à balayage du potentiel chimique, baptisé SCPM [...]  3, fiche 8, Français, - microscope%20%C3%A0%20balayage%20du%20potentiel%20chimique

Record number: 8, Textual support number: 1 OBS

[...] Dans le SCPM on chauffe l'échantillon jusqu'à le porter à une température supérieure, de 10 à 50 degrés, à la température ambiante. Il en résulte la formation d'un gradient de température entre la surface de l'échantillon et la pointe d'analyse.  3, fiche 8, Français, - microscope%20%C3%A0%20balayage%20du%20potentiel%20chimique

Record number: 8, Textual support number: 2 OBS

Pour un même échantillon, les images fournies par le SCPM présentent des caractéristiques différentes de celles observées sur une image donnée par un STM (microscope à effet tunnel à balayage). Ce phénomène n'est pas totalement expliqué.  2, fiche 8, Français, - microscope%20%C3%A0%20balayage%20du%20potentiel%20chimique

Fiche 8,  Justifications,  Espagnol

Fiche 9,  Justifications,  Français

Fiche 9,  Justifications,  Espagnol

Fiche 10,  Justifications,  Anglais

Record number: 10, Textual support number: 1 CONT

Chemical composition of a microfabricated sample was studied ... using a scanning photoelectron microscope, in which X rays eject electrons from atoms near the sample's surface.  2, fiche 10, Anglais, - scanning%20photoelectron%20microscope

Fiche 10,  Justifications,  Français

Fiche 10,  Justifications,  Espagnol

Record number: 10, Textual support number: 1 CONT

Composición química de una muestra microfabricada estudiada [...] usando un microscopio de barrido de fotoelectrones en el que los fotones de rayos X arrancan electrones provenientes de los átomos cercanos a la superficie de la muestra.  1, fiche 10, Espagnol, - microscopio%20de%20barrido%20de%20fotoelectrones

Fiche 11,  Justifications,  Français

Fiche 11,  Justifications,  Espagnol

Fiche 12,  Justifications,  Anglais

Record number: 12, Textual support number: 1 CONT

Scanning Laser Acoustic Microscope. This equipment may be used to provide non-destructive analysis of components in such areas as delamination, cracks, voids, etc. In addition, it can provide information on the attenuation of materials at frequencies of 10, 30, and 100 MHz. The measurement is based on the transmission of acoustic waves through a medium (typically water) while the surface of the component under testing is continuously scanned by a laser.  3, fiche 12, Anglais, - scanning%20laser%20acoustic%20microscope

Fiche 12,  Justifications,  Français

Record number: 12, Textual support number: 1 OBS

ultrasonique : Cette graphie, puisée des Rectifications de l'orthographe recommandées par le Conseil supérieur de la langue française, est attestée dans le Petit Robert (2006).  2, fiche 12, Français, - microscope%20ultrasonique%20%C3%A0%20balayage%20laser

Fiche 12,  Justifications,  Espagnol

Fiche 13,  Justifications,  Anglais

Record number: 13, Textual support number: 1 DEF

A light microscope that has a high axial resolution and that is capable of optical sectioning by illuminating the specimen one point at a time with a focused laser beam and using an optical arrangement, where only the light originating from the focus can be detected.  5, fiche 13, Anglais, - confocal%20laser%20scanning%20microscope

Fiche 13,  Justifications,  Français

Record number: 13, Textual support number: 1 CONT

Le microscope confocal à balayage laser (MCBL) est un microscope optique à éclairage épiscopique géré par un ordinateur qui est capable de sectionner optiquement un échantillon épais. Son image est ensuite reconstruite en superposant toutes ou certaines des sections optiques. Le faisceau lumineux (laser) balaie la surface de l'échantillon au moyen d'un miroir galvanométrique et la lumière réfléchie ou émise (fluorescence) provenant de chaque point de la surface balayée est recueillie par un détecteur, numérisée et stockée dans la mémoire de l'ordinateur. Sur le trajet des rayons provenant de l'échantillon se trouve un diaphragme (pinhole), situé sur l'avant du détecteur dans le plan conjugué avec celui de l'échantillon (confocal). Seuls les rayons image venant du plan focal, qui est confocal avec le plan du diaphragme, parviennent au détecteur. Les autres rayons, provenant d'autres plans focaux, sont bloqués par le diaphragme [...]. L'image résultante obtenue par balayage au niveau du plan focal a une épaisseur extrêmement limitée (section optique) et n'est pas perturbée par des images floues des plans situés au dessus ou au dessous. Comme l'ordinateur déplace la platine dans la direction de l'axe optique Z avec des mouvements micrométriques prédéfinis après chaque balayage, le MCBL ne peut pas recueillir les images provenant d'autres plans. L'ordinateur stocke les images correspondants aux sections optiques successives. Ces images peuvent être traitées de multiples manières.  3, fiche 13, Français, - microscope%20confocal%20%C3%A0%20balayage%20laser

Fiche 13,  Justifications,  Espagnol

Fiche 14,  Justifications,  Anglais

Record number: 14, Textual support number: 1 CONT

A basic system for performing the fault isolation techniques uses a laser scanning microscope (LSM) to sequentially scan a focused laser spot over the IC. Scanning can be performed from the front or backside, with near infrared (IR) lasers used for backside probing.  2, fiche 14, Anglais, - laser%20scanning%20microscope

Fiche 14,  Justifications,  Français

Record number: 14, Textual support number: 1 CONT

Coffret pour l'intégration de l'électronique d'un microscope à balayage laser (Laser Scanning Microscope). [...] le groupe Carl Zeiss a présenté un nouveau microscope à scanner laser et défini [...] un nouveau standard dans la microscopie fluorescente. Grâce à un nouveau procédé de détection, il est possible de découvrir les liaisons complexes et les interactions des structures et composants cellulaires et de les suivre dans des cellules ou tissus vivants. Cet appareil permet d'analyser des surfaces structurées comme les métaux. Il fournit des informations sur la composition chimique, la contrainte mécanique ou les impuretés.  3, fiche 14, Français, - microscope%20%C3%A0%20balayage%20laser

Fiche 14,  Justifications,  Espagnol

Fiche 15,  Justifications,  Anglais

Record number: 15, Textual support number: 1 OBS

We have developed a legitimate fluorescence confocal scanning microscope (CLSM) using a near ultraviolet (UV) laser. This system has almost no chromatic aberration from the near UV region to the visible region (350 - 600 nm), and the objectives are designed as water-immersion type. Therefore this system provides the high-quality fluorescence image excited by the near UV laser, and high-quality image of deep points in a sample.  1, fiche 15, Anglais, - fluorescence%20laser%20scanning%20microscope

Fiche 15,  Justifications,  Français

Fiche 15,  Justifications,  Espagnol

Fiche 16,  Justifications,  Français

Fiche 16,  Justifications,  Espagnol

Fiche 17,  Justifications,  Anglais

Record number: 17, Textual support number: 1 CONT

intaglio print is characterized by prominent features, letter-print by a shadowy image, and offset gives no detectable SEM signal of any sort.  1, fiche 17, Anglais, - SEM%20signal

Fiche 17,  Justifications,  Français

Record number: 17, Textual support number: 1 CONT

l'impression en taille-douce a des caractéristiques marquées, la typographie présente une image plus nette et l'offset ne donne aucun signal décelable au microscope à balayage électronique.  1, fiche 17, Français, - signal%20d%C3%A9celable%20au%20microscope%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A9lectronique

Fiche 17,  Justifications,  Espagnol

Fiche 18,  Justifications,  Anglais

Record number: 18, Textual support number: 1 OBS

SEM: scanning electron microscope  1, fiche 18, Anglais, - SEM%2FEDX%20Analytical%20Section

Record number: 18, Textual support number: 2 OBS

EDX: energy dispersive X-ray  1, fiche 18, Anglais, - SEM%2FEDX%20Analytical%20Section

Fiche 18,  Justifications,  Français

Fiche 18,  Justifications,  Espagnol

Fiche 19,  Justifications,  Anglais

Record number: 19, Textual support number: 1 OBS

a properly chosen sequence of electronic image processing steps, can reveal surface details which are not otherwise observed in SEM images.  1, fiche 19, Anglais, - SEM%20image

Fiche 19,  Justifications,  Français

Record number: 19, Textual support number: 1 OBS

[le] traitement électronique des images peut servir à mettre en évidence des détails de surface qui, sans cela, ne sont pas visibles sur les images obtenues avec le microscope à balayage électronique.  1, fiche 19, Français, - image%20obtenue%20avec%20le%20microscope%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A9lectronique

Fiche 19,  Justifications,  Espagnol

Fiche 20,  Justifications,  Anglais

Record number: 20, Textual support number: 1 DEF

A device that uses high-frequency ultrasound waves to penetrate surfaces.  3, fiche 20, Anglais, - scanning%20acoustic%20microscope

Fiche 20,  Justifications,  Français

Record number: 20, Textual support number: 1 OBS

Sur le modèle de : "microscopie électronique à balayage" (TECHN 1982 E4 2220-1).  1, fiche 20, Français, - microscope%20acoustique%20%C3%A0%20balayage

Fiche 20,  Justifications,  Espagnol

Fiche 21,  Justifications,  Français

Fiche 21,  Justifications,  Espagnol