TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

We present a novel technique in which a reflection scanning near-field optical microscope (SNOM) is used for direct writing of nano-scale patterns into hydrogen-passivated silicon surfaces. The reflection SNOM is operated as a combined shear-force/near-field microscope enabling simultaneous imaging of topographical and optical properties with subwavelength resolution. ... Beside high resolution optical imaging (<50 nm) and patterning of hydrogen-passivated silicon surfaces, the SNOM can also be used for transferring nano-scale patterns into ordinary photo resist with a typical resolution of 50-100 nm. The SNOM thereby overcomes the far-field diffraction limit of conventional photolithography.  5, fiche 1, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

Near-field scanning optical microscope [...] In this case the standard AFM [atomic force microscope] cantilever is replaced by something that can act as a waveguide for light (typically an optical fibre). Light is passed through the waveguide onto the sample and resulting light is detected via various means ...  3, fiche 1, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscope

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Microscope optique à balayage à champ proche. Il est possible d'éviter la limitation de résolution due aux conditions d'Abbe pour caractériser plus finement la microgéométrie de surface. Grâce à une fibre optique, on éclaire la surface par un très fin pinceau en incidence évanescente et l'on recueille la lumière diffractée; en balayant la surface on construit ainsi une image point par point.  1, fiche 1, Français, - microscope%20optique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20champ%20proche

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

[...] a principios de 1980 se inventó el microscopio óptico de barrido de campo cercano (SNOM o NSOM), en el que una fuente de luz nanoscópica, generalmente una punta de fibra óptica con una apertura más pequeña de 100 nm, barre la superficie de la muestra en la región llamada "campo óptico cercano".  2, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Estos microscopios rastrean la muestra mediante un haz de luz que se emite (o se recibe, según el diseño) a través de una pequeña abertura situada en el extremo de la punta de la sonda, que no es más que una pequeña fibra óptica cubierta de un metal que refleja la luz y evita pérdidas. El diámetro de la abertura y la distancia sonda-muestra tienen dimensiones similares e inferiores a la longitud de onda de la luz que se emplea.  3, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 1, Textual support number: 2 OBS

SNOM: según su sigla en inglés (scanning near-field optical microscope).  4, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Record number: 1, Textual support number: 3 OBS

NSOM: según su sigla en inglés (near-field scanning optical microscope).  4, fiche 1, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

The near-field microscope is an advanced optical microscope that is able to resolve details slightly smaller than the wavelength of visible light. This high resolution is achieved by passing a light beam through a tiny hole at a distance from the specimen of only about half the diameter of the hole. The light is played across the specimen until an entire image is obtained.  3, fiche 2, Anglais, - near%2Dfield%20microscope

Record number: 2, Textual support number: 1 PHR

Projection type near-field microscope.  4, fiche 2, Anglais, - near%2Dfield%20microscope

Record number: 2, Textual support number: 2 PHR

Commercial, ionic near-field microscope.  4, fiche 2, Anglais, - near%2Dfield%20microscope

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Un microscope à sonde locale ne possède pas de lentille; la pièce la plus importante de ces microscopes est une sonde, très fine, qui est déplacée au voisinage de l'objet, en champ proche, pour l'éclairer ou encapter un signal. Ces microscopes sont des microscopes à balayage; l'image est obtenue en déplaçant point par point la sonde et en traçant le signal détecté en fonction de sa position. Ils nécessitent l'utilisation d'un ordinateur pour visualiser les images, mais aussi pour contrôler la position de la sonde qui doit se déplacer à des distances nanométriques de la surface de l'objet.  4, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20champ%20proche

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

Citons les deux formes principales de microscope à sonde locale : le microscope à effet tunnel (STM : Scanning Tunneling Microscope) qui utilise l'émission par effet tunnel d'électrons entre l'échantillon et une pointe métallique, et le microscope à force atomique (AFM : Atomic Force Microscope) qui utilise les forces de van der Waals des atomes d'une surface agissant sur une pointe, localisée en bout d'un bras de levier.  5, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20champ%20proche

Record number: 2, Textual support number: 1 PHR

Microscope à champ proche ionique.  6, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20champ%20proche

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Hay diversos microscopios ópticos para funciones especiales [como el] microscopio de campo cercano, con el que se pueden ver detalles algo menores a la longitud de onda de la luz.  1, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20campo%20cercano

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

It is important to establish fabrication technologies for nanostructures as well as nanometer-scale optical characterizations. The selective growth technique and Stranski-Krastanow growth for the nanostructure fabrication, demonstrating natural ordering of InGaAs quantum dots on multi-atomic steps without any lithographic processing, will be discussed. Photoluminescence from a single quantum dot and direct observation of two dimensional electron motion in point contact structures are also discussed using the far-field optical microscope and the near-field optical microscope.  1, fiche 3, Anglais, - near%2Dfield%20optical%20microscope

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 DEF

Microscope dont le mode de fonctionnement est caractérisé par l'utilisation de photons ayant une profondeur de pénétration dans l'air de quelques dizaines à quelques centaines d'angströms.  3, fiche 3, Français, - microscope%20optique%20%C3%A0%20champ%20proche

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

On pourrait croire que, dans cette course vers la visualisation de l'infiniment petit, la microscopie optique ait baissé les bras, handicapée qu'elle était par le phénomène de la diffraction de la lumière. Comme nous allons le voir, il n'en est rien, et de très prometteuses perspectives s'ouvrent avec le développement d'un nouveau type de microscope : le microscope à champ proche, dont le principe est l'analyse du champ lumineux à une très faible distance de la surface étudiée, constitue aussi pour l'optique un virage conceptuel important.  4, fiche 3, Français, - microscope%20optique%20%C3%A0%20champ%20proche

Record number: 3, Textual support number: 2 OBS

La pénétration dans l'air des ondes évanescentes permet d'envisager l'observation à une distance plus grande qu'avec les autres microscopes à sonde locale, qui opèrent pour la plupart à quelques angströms de la surface. Cela peut être pour étudier des surfaces très irrégulières ou présentant des dénivellations importantes (circuits intégrés par exemple).  3, fiche 3, Français, - microscope%20optique%20%C3%A0%20champ%20proche

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

En particular, para puntas especialmente diseñadas, se esperan curvas de aproximación con sensibilidad en el nanómetro, lo cual es la base para obtener una alta resolución en un microscopio óptico de campo cercano sin apertura.  1, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20%C3%B3ptico%20de%20campo%20cercano

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

The payload of the (DS-4/ST-4) Champollion comet lander (cancelled July 1999) was as follows: CIRCLE (near-field camera, microscope, IR spectrometer) (Yelle), ISIS (stereo panoramic camera) (Bibring), CHAMPAGNE (GRS) (d'Uston), CHARGE (Chemical Analysis of Released Gas Experiment- GCMS) (Mahaffy), CPPP (Comet Physical Properties Package) (Ahrens), CONSERT (Kofman) (while still part of Rosetta), Sample return (studied briefly).  2, fiche 4, Anglais, - near%2Dfield%20camera%2C%20microscope%2C%20IR%20spectrometer

Fiche 4,  Justifications,  Français

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol