TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Scanning tunnelling microscopy (STM) has proved to be a ... powerful technique in the field of surface science. The fact that sets the STM apart from most other surface sensitive techniques is its ability to resolve the structure of surfaces on an atomic scale, that is atom-by-atom, and furthermore its ability to study the dynamics of surface processes.  4, fiche 1, Anglais, - scanning%20tunneling%20microscopy

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Scanning tunneling microscopy - The development of the family of scanning probe microscopes started with the original invention of the STM in 1981.  5, fiche 1, Anglais, - scanning%20tunneling%20microscopy

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure de l'intensité du courant électrique dû au passage des électrons par effet tunnel entre la pointe de la sonde et la surface de l'échantillon.  7, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20effet%20tunnel

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

La [...] microscopie à effet tunnel (STM) a été inventée par G. Binning et H. Rohrer en 1981. Son principe est le même que la microscopie optique à champ proche. Une sonde métallique est approchée au plus près de la surface d'un matériau conducteur, afin de détecter les ondes électroniques évanescentes des électrons de conduction du métal. On sait que l'amplitude de ces ondes décroît exponentiellement en fonction de la distance à la surface pour un observateur placé en dehors du métal. Le courant tunnel sonde-surface est donc une fonction décroissante de la distance qui sépare la surface de l'apex de la pointe : typiquement un ordre de grandeur par 0,1 nm [nanomètre]. De plus, le courant tunnel reste très localisé au voisinage de la pointe. En balayant avec cette sonde la surface à analyser et en conservant le courant constant, le signal d'erreur de la boucle de contre-réaction permet de reconstruire une image de la surface avec une résolution latérale inférieure à 0,2 nm, et une résolution verticale inférieure à 0,05 nm.  6, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20effet%20tunnel

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

La microscopie à effet tunnel nécessite que la pointe de la sonde et la surface de l'échantillon soient toutes deux conductrices.  7, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20effet%20tunnel

Record number: 1, Textual support number: 2 OBS

microscopie à effet tunnel; MET : désignations et définition publiées au Journal officiel de la République française le 28 janvier 2020.  8, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20effet%20tunnel

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

El presente proyecto comprende el diseño e implementación de un sistema de microscopía de efecto túnel, este sistema se basa en la utilización de las propiedades de movimiento nanométrico de los materiales piezoeléctricos y de la capacidad de tunelaje de electrones a través de una barrera de potencial, para desarrollar un sistema de topografía nanométrica.  3, fiche 1, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20efecto%20t%C3%BAnel

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

La invención de la microscopía de efecto túnel posibilitó el desarrollo de las llamadas microscopías de campo cercano [...]  4, fiche 1, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20efecto%20t%C3%BAnel

Fiche 2,  Justifications,  Français

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Fundamental development of scanning thermal microscopy and application of the technique to microscale heat transport in a variety of electronic devices and interfaces is proposed. The goal is to obtain a spatial resolution of 1-10 nm and a temporal resolution of 10 ns in temperature measurement.  3, fiche 3, Anglais, - scanning%20thermal%20microscopy

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

La microscopie thermique à balayage permet d'effectuer l'analyse fine des températures à proximité d'une surface par pilotage des déplacements micrométriques et acquisition des données d'un microcouple thermoélétrique.  1, fiche 3, Français, - microscopie%20thermique%20%C3%A0%20balayage

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

[La] microscopía de barrido térmico [...] mide la conductividad térmica de la superficie [...]  1, fiche 3, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20barrido%20t%C3%A9rmico

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

In scanning electron microscopy (SEM), a fine probe of electrons with energies typically up to 40 keV [kiloelectron volts] is focused on a specimen, and scanned along a pattern of parallel lines. Various signals are generated as a result of the impact of the incident electrons, which are collected to form an image or to analyse the sample surface. These are mainly secondary electrons, with energies of a few tens of eV [electron volts], high-energy electrons backscattered from the primary beam and characteristic X-rays.  5, fiche 4, Anglais, - scanning%20electron%20microscopy

Fiche 4,  Justifications,  Français

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Microscopie électronique à balayage. Les microscopes électroniques à balayage (MEB) utilisent un faisceau d'électrons balayés hautement énergétique pour examiner la surface d'un échantillon.  6, fiche 4, Français, - microscopie%20%C3%A0%20balayage

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

Técnica [que] se utiliza para la observación y análisis de superficies suministrando información de relieve, textura, tamaño y forma de grano y composición química [...] de muestras biológicas y minerales.  1, fiche 4, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20barrido

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

SEM por sus siglas en inglés.  2, fiche 4, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20barrido

Fiche 5,  Justifications,  Anglais

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

Scanning transmission electron microscopy (STEM) combines the principles of transmission electron microscopy and scanning electron microscopy and can be performed on either type of instrument. Like TEM [transmission electron microscopy], STEM requires very thin samples and looks primarily at beam electrons transmitted by the sample. One of its principal advantages over TEM is in enabling the use of other signals that cannot be spatially correlated in TEM, including secondary electrons, scattered beam electrons, characteristic X-rays, and electron energy loss. Like SEM [scanning electron microscopy], the STEM technique scans a very finely focused beam of electrons across the sample in a raster pattern. Interactions between the beam electrons and sample atoms generate a serial signal stream, which is correlated with beam position to build a virtual image in which the signal level at any location in the sample is represented by the gray level at the corresponding location in the image. Its primary advantage over conventional SEM imaging is the improvement in spatial resolution.  3, fiche 5, Anglais, - scanning%20transmission%20electron%20microscopy

Fiche 5,  Justifications,  Français

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

Caractérisation des nanomatériaux par microscopie électronique à transmission et à balayage : résolution, analyse X, diffraction électronique, topographie et cartographie.  4, fiche 5, Français, - microscopie%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20transmission%20et%20%C3%A0%20balayage

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

El grupo de investigación [...] ha desarrollado un nuevo método de fabricación de nanoagujas localizadas en el interior de muestras de distintos materiales, que presentan un amplio rango de aplicaciones, como la preparación de muestras para análisis por microscopía electrónica de transmisión (TEM) y transmisión-barrido (STEM), para técnicas de microscopía óptica de barrido de campo cercano, tomografía electrónica y microscopía de sonda atómica.  2, fiche 5, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

STEM: por su sigla en inglés (scanning transmission electron microscopy).  3, fiche 5, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Fiche 6,  Justifications,  Anglais

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

SNOM is the acronym for "scanning near-field optical microscopy," an alternative name for NSOM (near-field scanning optical microscopy). The basic principle of such a kind of technique is quite simple: light passes through a sub-wavelength diameter aperture and illuminates a sample that is placed within its near field, at a distance much less than the wavelength of the light. The resolution achieved is far better than that which conventional optical microscopes can attain.  4, fiche 6, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscopy

Record number: 6, Textual support number: 2 CONT

Microscopists are now in a position to transfer the refinements of the past 100-year techniques for enhancing contrast and highlighting specific features, such as polarization contrast, immunofluorescence and phase contrast to scanning near-field optical microscopy. With existing scanned-probe microscopes we can "see" the nanometer realm of molecules and microcircuits. As the same technology is applied to optical microscopy, we may eventually come to see that world in the familiar terms of light, shadow and color.  6, fiche 6, Anglais, - scanning%20near%2Dfield%20optical%20microscopy

Fiche 6,  Justifications,  Français

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

Ces interactions se produisent à l'échelle moléculaire, c'est pourquoi il est très important d'analyser les propriétés physico-chimiques de la surface à l'échelle atomique et moléculaire. Pour ce faire nous utilisons dans notre groupe les techniques de microscopie à champ proche à balayage : microscopie à effet tunnel (STM), microscopie à force atomique ou effet de force (AFM-SFM), microscopie optique à champ proche à balayage (SNOM).  1, fiche 6, Français, - microscopie%20optique%20%C3%A0%20champ%20proche%20%C3%A0%20balayage

Record number: 6, Textual support number: 2 CONT

L'équipe [...] a réussi à visualiser ce phénomène biologique en recourant à la microscopie optique à balayage à champ proche (NSOM). Cette technologie d'imagerie éclaire la cellule en canalisant la lumière dans une sonde à fibre optique plus petite qu'un micron. La minuscule ouverture de la sonde (guère plus de 50 nanomètres de diamètre) interdit la diffraction des rayons lumineux qui réduit normalement la résolution en microscopie classique.  3, fiche 6, Français, - microscopie%20optique%20%C3%A0%20champ%20proche%20%C3%A0%20balayage

Fiche 6,  Justifications,  Espagnol

Record number: 6, Textual support number: 1 CONT

El grupo de investigación [...] ha desarrollado un nuevo método de fabricación de nanoagujas localizadas en el interior de muestras de distintos materiales, que presentan un amplio rango de aplicaciones, como la la preparación de muestras para análisis por microscopía electrónica de transmisión (TEM) y transmisión-barrido (STEM), para técnicas de microscopía óptica de barrido de campo cercano, tomografía electrónica y microscopía de sonda atómica.  1, fiche 6, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20%C3%B3ptica%20de%20barrido%20de%20campo%20cercano

Fiche 7,  Justifications,  Français

Fiche 7,  Justifications,  Espagnol

Fiche 8,  Justifications,  Anglais

Record number: 8, Textual support number: 1 CONT

Sonoscan has developed a non-destructive test utilizing real-time Scanning Laser Acoustic Microscopy (SLAM) to determine the quality of TAB (Tape Automated Bonding] bonds.  1, fiche 8, Anglais, - scanning%20laser%20acoustic%20microscopy

Record number: 8, Textual support number: 1 OBS

Nondestructive test for metallurgical tape bonds.  1, fiche 8, Anglais, - scanning%20laser%20acoustic%20microscopy

Fiche 8,  Justifications,  Français

Record number: 8, Textual support number: 1 OBS

ultrasonique : Cette graphie, puisée des Rectifications de l'orthographe recommandées par le Conseil supérieur de la langue française, est attestée dans le Petit Robert (2006).  2, fiche 8, Français, - microscopie%20ultrasonique%20%C3%A0%20balayage%20laser

Record number: 8, Textual support number: 2 OBS

Les fréquences utilisées sont de l'ordre de 10 à 100 MHz (donc dans les ultrasons).  1, fiche 8, Français, - microscopie%20ultrasonique%20%C3%A0%20balayage%20laser

Fiche 8,  Justifications,  Espagnol

Fiche 9,  Justifications,  Anglais

Record number: 9, Textual support number: 1 DEF

A laser scanning microscopy system that focuses on a single plane of light through a biological substance, allowing high-resolution, three-dimensional images to be built up.  4, fiche 9, Anglais, - confocal%20laser%20scanning%20microscopy

Record number: 9, Textual support number: 1 CONT

Laser Scanning Confocal Microscopy (LSCM, also referred to as CSLM, Confocal Scanning Laser Microscopy) is now established as a valuable tool for obtaining high resolution images and 3-D reconstructions of a variety of biological specimens. In LSCM, a laser light beam is expanded to make optimal use of the optics in the objective. Through a x-y deflection mechanism this beam is turned into a scanning beam, focussed to a small spot by an objective lens onto a fluorescent specimen. The mixture of reflected light and emitted fluorescent light is captured by the same objective and (after conversion into a static beam by the x-y scanner device) is focused onto a photodetector (photomultiplier) via a dichroic mirror (beam splitter). The reflected light is deviated by the dichroic mirror while the emitted fluorescent light passes through in the direction of the photomultiplier. A confocal aperture (pinhole) is placed in front of the photodetector, such that the fluorescent light (not the reflected light!) from points on the specimen that are not within the focal plane (the so called out-of-focus light) where the laser beam was focussed will be largly obstructed by the pinhole. In this way, out-of-focus information (both above and below the focal plane) is greatly reduced.  2, fiche 9, Anglais, - confocal%20laser%20scanning%20microscopy

Fiche 9,  Justifications,  Français

Record number: 9, Textual support number: 1 CONT

Principe de la microscopie confocale à balayage laser (MCBL). Le rayon laser excitateur pénètre dans l'échantillon préalablement marqué par des fluorochromes [...], auparavant répertoriés et choisis en fonction de leurs propriétés à se fixer sur des molécules particulières d'une structure ou d'un objet d'intérêt. Lors de l'impact optique, il y a émission de rayons lumineux provenant de différents plans de la préparation. Grâce à un diaphragme variable («trou d'aiguille» - pinhole), il est possible de sélectionner les rayons émis par un seul plan de préparation et d'éliminer le signal provenant d'autres plans. Les rayons réfléchis sont filtrés en fonction de leur longueurs d'onde puis détectés par des photo-multiplicateurs. Le signal reçu est enfin converti en signal numérique, contribuant à la création d'une image [...]  2, fiche 9, Français, - microscopie%20confocale%20%C3%A0%20balayage%20laser

Record number: 9, Textual support number: 1 OBS

Tous les champs d'application de la microscopie confocale à balayage laser : localisations intracellulaires par fluorescence (simple et double marquage), reconstitution 3D par fluorescence de structures cellulaires, hybridation in situ, cinétique de processus dans les cellules vivantes, états de surface de matériaux divers.  3, fiche 9, Français, - microscopie%20confocale%20%C3%A0%20balayage%20laser

Fiche 9,  Justifications,  Espagnol

Fiche 10,  Justifications,  Anglais

Record number: 10, Textual support number: 1 CONT

Confocal laser scanning microscopy with 1-photon excitation ... became a practical technique with the introduction of the first commercially available models in the early 1980's. Laser scanning microscopes (LSM) with 2-photon excitation (2P-LSM) have been commercially available since 1997.  1, fiche 10, Anglais, - confocal%20laser%20scanning%20microscopy%20with%201%2Dphoton%20excitation

Record number: 10, Textual support number: 2 CONT

Conventional one-photon confocal laser scanning microscopy (CLSM) often provides high resolution but is limited in sensitivity and spatial resolution by background flare noise resulting from "out-of-focus" fluorescence.  2, fiche 10, Anglais, - confocal%20laser%20scanning%20microscopy%20with%201%2Dphoton%20excitation

Fiche 10,  Justifications,  Français

Record number: 10, Textual support number: 1 OBS

La première fonction de l'excitation laser est d'arracher un électron à l'agrégat. En effet, la séparation en masse des espèces neutres, nécessaire à toute étude d'agrégats, ne peut se faire que si l'agrégat est ionisé. Ceci peut se faire de diverses manières: excitation à un photon, excitation à deux photons résonnante (R2PI) ou non, dépendant du type d'agrégats et de l'expérience réalisée.  2, fiche 10, Français, - microscopie%20confocale%20%C3%A0%20balayage%20laser%20%C3%A0%20excitation%20monophotonique

Record number: 10, Textual support number: 2 OBS

Nous discuterons [...] des divers avantages de la technique biphotonique par rapport à son homologue en excitation monophotonique : le microscope confocal de fluorescence. Dans une deuxième partie, nous décrirons brièvement les différentes techniques d'imagerie à haute résolution spatiale de la fluorescence utilisées en microscopie confocale ou biphotonique de fluorescence et nous introduirons le principe des deux techniques d'analyse dynamique de l'émission de la fluorescence que nous avons développées dans le cadre de notre projet : la microscopie de corrélation de fluorescence et l'imagerie de temps de vie de fluorescence.  3, fiche 10, Français, - microscopie%20confocale%20%C3%A0%20balayage%20laser%20%C3%A0%20excitation%20monophotonique

Fiche 10,  Justifications,  Espagnol

Fiche 11,  Justifications,  Français

Fiche 11,  Justifications,  Espagnol

Fiche 12,  Justifications,  Français

Fiche 12,  Justifications,  Espagnol

Fiche 13,  Justifications,  Anglais

Fiche 13,  Justifications,  Français

Record number: 13, Textual support number: 1 OBS

Par inférence : "microscopie électronique à balayage" (TECHN 1982 E4 et "spectroscopie Auger" (TECHN 1974 P3 2475-8).  1, fiche 13, Français, - microscopie%20Auger%20%C3%A0%20balayage

Fiche 13,  Justifications,  Espagnol

Fiche 14,  Justifications,  Anglais

Fiche 14,  Justifications,  Français

Record number: 14, Textual support number: 1 OBS

Nicole Guénette (ICC)  1, fiche 14, Français, - laboratoire%20de%20microscopie%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20balayage

Fiche 14,  Justifications,  Espagnol