TERMIUM Plus^®

Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

One of the primary impediments to implementing the scanning probe geometry is the large, spurious forces on the sensitive force detector which will arise from interactions between the magnetic tip and various time-varying applied magnetic fields which can mask the desired resonance signal.  1, fiche 1, Anglais, - force%20detector

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Détecteurs de forces. La première méthode qui fut employée pour mesurer la déviation du levier s'imposa presque comme une évidence. Le moyen le plus puissant pour mesurer de petites distances à ce moment-là était bien évidemment le STM [microscope à effet tunnel]. En effet, il suffit de placer la pointe au-dessus du levier et de déduire ses déviations des variations du courant tunnel. Cette méthode est très bien adaptée pour des mesures effectuées dans le vide et dans des conditions favorables.  1, fiche 1, Français, - d%C3%A9tecteur%20de%20forces

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

[...] uno de los elementos más cruciales de un SFM [microscopio de fuerza atómica] es el detector de fuerzas. Ese detector de fuerzas tiene que tener una alta sensibilidad dado que las fuerzas que se manejan pueden llegar a ser del orden de pN. [...] El detector de fuerzas consiste básicamente en una micropalanca con una punta (generalmente piramidal o cónica) integrada, fabricadas por técnicas de microfabricación [...]  1, fiche 1, Espagnol, - detector%20de%20fuerzas

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

The contact mode atomic force microscope (AFM) uses a tip that is connected to a cantilever which has a spring constant of about 0.01 - 0.3 N/m.  1, fiche 2, Anglais, - contact%20mode%20atomic%20force%20microscope

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

[...] la version 3100 est composée d’un microscope à force atomique en mode contact ou en mode tapping, mode qui permet d’étudier la surface d’échantillons de toute taille. Elle est équipée de moteurs pas-à-pas qui permettent une étude exhaustive à grande échelle des échantillons.  1, fiche 2, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20contact

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Microscopio de fuerza atómica [...] Tiene resolución de fracciones de angstrom. Su sonda está formada por un cantilever microscópico con una fina punta en su extremo encargada de rastrear la muestra. Puede trabajar en modo "contacto" y en modo "sin contacto". En el primer caso la punta toca la muestra y ésta ejerce una fuerza sobre la primera a medida que la sonda se desplaza sobre la muestra en el plano XY.  1, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 2 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  3, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  4, fiche 2, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

The AFM can operate in either a "constant force" mode or a "constant height" mode. In the constant force mode, the DSP [digital signal processor] adjusts the height of the sample under the tip based on the deflection error signal, thus keeping the force constant. This is particularly useful if you must maintain a minimum or maximum force to an object.  2, fiche 3, Anglais, - atomic%20force%20microscope%20in%20constant%20force%20mode

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Microscope à force atomique. [...] De même que pour le STM [microscope à effet tunnel], on distingue deux types de fonctionnement : [...] a) Balayage à hauteur constante [...] b) Balayage à force constante : À l'instar du STM, on essaie de maintenir la force constante durant toute la mesure, c'est-à-dire de déplacer l'objet dans les trois directions de l'espace. Les informations spatiales sont ensuite converties et transmises à un processeur d'image et visualisées sur un écran vidéo en affectant aux différentes altitudes des niveaux de gris donnés. La vitesse de balayage est ici uniquement limitée par la vitesse de réaction de la céramique piézo-électrique.  2, fiche 3, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20force%20constante

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 OBS

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). [...] Modos de operación. [...] Modo de contacto. [...] Dos modos de operación: (i) fuerza constante (piezo en z mueve a la muestra para mantener la deflexión constante) (ii) altura constante (mantiene z constante y mide la deflexión).  2, fiche 3, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto%20de%20fuerza%20constante

Fiche 4,  Justifications,  Anglais

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

The AFM can operate in either a "constant force" mode or a "constant height" mode. ... The constant height mode keeps the sample at a set height then measures the deflection of the laser on the photodiode.  2, fiche 4, Anglais, - atomic%20force%20microscope%20in%20constant%20height%20mode

Fiche 4,  Justifications,  Français

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Microscope à force atomique. [...] De même que pour le STM [microscope à effet tunnel], on distingue deux types de fonctionnement : [...] a) Balayage à hauteur constante : durant la mesure, on maintient l'échantillon à une altitude constante et on enregistre le mouvement vertical du levier. Dans ce mode de fonctionnement, c'est l'inertie du levier qui impose la vitesse de déplacement de l'échantillon. Si la vitesse venait à être trop élevée, la pointe n'arriverait pas à suivre fidèlement les contours de la surface d'où une déformation de l'image, et même des dommages éventuels sur l'objet.  2, fiche 4, Français, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20%C3%A0%20balayage%20%C3%A0%20hauteur%20constante

Fiche 4,  Justifications,  Espagnol

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). [...] Modos de operación. [...] Modo de contacto. [...] Dos modos de operación: (i) fuerza constante (piezo en z mueve a la muestra para mantener la deflexión constante) (ii) altura constante (mantiene z constante y mide la deflexión).  2, fiche 4, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto%20de%20altura%20constante

Fiche 5,  Justifications,  Anglais

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

A device in which the deflection of a sharp stylus mounted on a soft spring is monitored as the stylus is moved across a surface.  5, fiche 5, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Unlike the STM, the AFM [Atomic Force Microscope] can scan nonconducting samples. It can do this because it uses optical technology, direct contact, and a laser, to sense the position of the tip in relation to the sample. The tip is very sharp and protrudes from a small flexible cantilever. The laser reflects off the top side of the tip and is directed to a split photodiode. The height of the surface of the sample deflects the cantilever causing the position of the laser on the photodiode to change. The difference in voltage from the photodiode elements provide a "picture" of the surface.  6, fiche 5, Anglais, - atomic%20force%20microscope

Fiche 5,  Justifications,  Français

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Microscope où une pointe très fine se déplaçant à la surface de l'échantillon étudié, enregistre, grâce à un dispositif d'asservissement, la force d'interaction de Van der Waals entre la pointe sondeuse et la surface de l'échantillon.  5, fiche 5, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Record number: 5, Textual support number: 1 OBS

Le microscope à force atomique est un microscope à palpeur, c'est-à-dire que la sonde est en interaction mécanique (attractive ou répulsive) avec la surface à caractériser.  6, fiche 5, Français, - microscope%20%C3%A0%20forces%20atomiques

Fiche 5,  Justifications,  Espagnol

Record number: 5, Textual support number: 1 DEF

Microscopio de proximidad basado en la detección de la fuerza que actúa entre la punta del microscopio y una [superficie] metálica o aislante [...] monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm [nanómetros] que se localiza al final de un cantilever.  1, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica

Record number: 5, Textual support number: 1 CONT

El microscopio de fuerzas atómicas […] fue inventado en el año 1986 por G. Binning, C. Quate y Ch. Gerber como un instrumento capaz de obtener con gran resolución imágenes de la topografía de una superficie.  2, fiche 5, Espagnol, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica