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Fiche 1,  Justifications,  Anglais

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Atomic-force microscopy is similar to scanning-tunneling microscopy (STM) in that it can image surfaces at atomic-scale resolution. The difference between AFM and STM is that AFM does not require that the sample be an electrically conducting material. Like STM, it uses an atomically-sharp tip that is brought very close to the surface. The tip will feel a chemical attraction or repulsion and will move up or down on its supporting cantilever. This movement is monitored by an optical laser beam as the tip is moved laterally across the surface. As in STM, rastering the tip across the surface produces a topographic map of the surface.  3, fiche 1, Anglais, - atomic%20force%20microscopy

Fiche 1,  Justifications,  Français

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s'exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l'échantillon.  4, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

La microscopie à force atomique (AFM : «atomic force microscopy») a été introduite en 1986 par G. Binnig, C.F. Quate et C. Gerber, comme une application du concept de microscope à effet tunnel (STM : «scanning tunneling microscope») [...] permettant l'étude de surfaces de matériaux isolants à l'échelle atomique. En combinant les principes du microscope à effet tunnel et du stylet profilométrique, les auteurs démontraient la possibilité d'imager, à l'air libre, la surface d'échantillons conducteurs ou non, avec une résolution latérale de 30 Å [angström] et une résolution verticale inférieure à 1 Å. La technique a, depuis lors, été adaptée à différents environnements tels que le vide, le milieu liquide, les basses températures, les champs magnétiques et aussi pour des applications en chimie ou en biologie. L'AFM est basée sur la mesure des forces entre un fin stylet et la surface étudiée. Le capteur de force est un ressort-lame (stylet) encastré à une extrémité et muni d'une pointe à l'autre extrémité; il est encore appelé «cantilever». Les forces d'interaction modifient la déflection ou la torsion statique ou oscillante du stylet. La mesure des déformations du «cantilever» dans les microscopes de force actuels s'effectue, le plus souvent, grâce à la déviation d'un faisceau lumineux («diode laser») réfléchi par l'extrémité du stylet, méthode proposée dès 1988 par G. Meyer et N. Amer [...] La majorité des utilisateurs cherche à obtenir des formes ou des tailles caractéristiques de la surface; en balayant l'échantillon sous le «cantilever», on obtient l'image AFM recherchée. Mais on s'est très vite aperçu qu'il était possible avec le même instrument de proposer des situations originales de «physique au nanomètre».  5, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

microscopie à force atomique; MFA : désignations et définition publiées au Journal officiel de la République française le 28 janvier 2020.  6, fiche 1, Français, - microscopie%20%C3%A0%20force%20atomique

Fiche 1,  Justifications,  Espagnol

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Microscopía de fuerzas atómicas (AFM). Este tipo de microscopía pertenece a la familia de las microscopías de campo próximo y es, junto con el microscopio túnel de barrido, el sistema de análisis superficial de más resolución (superior a 1 nm [nanómetro]) […]  1, fiche 1, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20fuerzas%20at%C3%B3micas

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

AFM por sus siglas en inglés.  2, fiche 1, Espagnol, - microscop%C3%ADa%20de%20fuerzas%20at%C3%B3micas

Fiche 2,  Justifications,  Anglais

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

A technical stop should not result in any flight stage being classified differently than would have been the case had the technical stop not been made.  2, fiche 2, Anglais, - technical%20stop

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

technical stop; operational stop: terms officially approved by the International Civil Aviation Organization (ICAO).  3, fiche 2, Anglais, - technical%20stop

Fiche 2,  Justifications,  Français

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Une escale technique ne fait pas classer une étape dans une catégorie autre que celle dans laquelle elle aurait été classée s'il n'y avait pas eu d'escale technique.  2, fiche 2, Français, - escale%20technique

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

escale technique : terme uniformisé par l'Organisation de l'aviation civile internationale (OACI).  3, fiche 2, Français, - escale%20technique

Fiche 2,  Justifications,  Espagnol

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Una escala técnica no es motivo para asignar a una etapa de vuelo una clasificación distinta de la que le hubiese correspondido en caso de no haberse efectuado dicha escala.  2, fiche 2, Espagnol, - escala%20t%C3%A9cnica

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

escala técnica: término aceptado oficialmente por la Organización de Aviación Civil Internacional (OACI).  3, fiche 2, Espagnol, - escala%20t%C3%A9cnica

Fiche 3,  Justifications,  Anglais

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Scanning probe microscopy. A tiny sharpened tip, such as that on a scanning tunneling microscope, can move atoms and create atomic-scale images. If many developmental hurdles can be overcome, the technology holds the promise of being suitable for storing bits of information by moving atoms on or off a surface.  1, fiche 3, Anglais, - atomic%2Dscale%20image

Fiche 3,  Justifications,  Français

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

Le microscope à effet tunnel (STM) est un instrument utilisé pour l'étude des surfaces des matériaux conducteurs. Il permet de visualiser les atomes et d'obtenir des images à l'échelle atomique.  1, fiche 3, Français, - image%20%C3%A0%20l%27%C3%A9chelle%20atomique

Fiche 3,  Justifications,  Espagnol

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

[...] es muy probable que unos pocos átomos en el ápice extremo del tip alcancen a estar en contacto con la superficie de la muestra, y la variación espacial de los componentes de la fuerza repulsiva asociada a ese contacto origina detalles de imagen a escala atómica [...]  1, fiche 3, Espagnol, - imagen%20a%20escala%20at%C3%B3mica