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Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

A beam electron that is reflected from [a] sample by elastic scattering.  4, record 1, English, - back%2Dscattered%20electron

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

BSE are often used in analytical SEM [scanning electron microscopy] along with the spectra made from the characteristic X-rays. Because the intensity of the BSE signal is strongly related to the atomic number (Z) of the specimen, BSE images can provide information about the distribution of different elements in the sample.  5, record 1, English, - back%2Dscattered%20electron

Record number: 1, Textual support number: 2 OBS

The backscattered electron yield is strongly dependent upon atomic number, qualitatively describes the origin of characteristic rays, and reveals compositional and topographic information about the specimen.  1, record 1, English, - back%2Dscattered%20electron

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 DEF

Électron résultant de l'impact d'un faisceau d'électrons dit primaire et d'un échantillon.  2, record 1, French, - %C3%A9lectron%20r%C3%A9trodiffus%C3%A9

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

Les électrons primaires sont entrés en collision avec des noyaux d’atomes de l’échantillon et ont réagi de façon quasi élastique avec eux. Les électrons sont réémis dans une direction proche de leur direction d'origine avec une faible perte d'énergie.  2, record 1, French, - %C3%A9lectron%20r%C3%A9trodiffus%C3%A9

Record 1,  Textual support,  Spanish

Record 2,  Textual support,  English

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Electron backscattered diffraction in a scanning electron microscope allows the crystallographic orientation of small grains to be measured precisely. EBSD can be used to study crystallographic preferred orientations, grain boundary and twin characteristics, to quantitatively map grain microstructures and for characterisation of fine-grained phases. We are using the EBSD to investigate the microstructural and crystallographic signatures of deformation recrystallisation and reaction processes in rocks.  1, record 2, English, - electron%20backscattered%20diffraction

Record 2,  Textual support,  French

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

A l'échelle mésoscopique, la diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD : Electron BackScattered Diffraction) permet, en mode automatique, de reconstruire la microstructure en termes d'orientations à partir de l'indexation de diagrammes de Kikuchi. Cette technique de microscopie à imager les orientations [...] est particulièrement bien adaptée à l'étude de la croissance granulaire [...]  2, record 2, French, - diffraction%20des%20%C3%A9lectrons%20r%C3%A9trodiffus%C3%A9s

Record 2,  Textual support,  Spanish

Record 3,  Textual support,  English

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

[In in situ microanalysis], the(excess) electrons present in a specimen under electron bombardment which are lead to ground and measured as specimen current. The number of absorbed electrons per unit time(or the specimen current), equals the number of primary electrons minus the number of back scattered, secondary and transmitted electrons per unit time. Therefore the fraction of electrons being absorbed depends on many parameters, including the composition and thickness of the specimen, the primary electrons energy, the electron incidence angle and local electrostatic fields when present.  1, record 3, English, - absorbed%20electron

Record 3,  Textual support,  French

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

[En microanalyses in situ], électrons (en excès) présents dans un échantillon soumis à un bombardement électronique dont on mesure le courant de décharge. Le nombre d'électrons absorbés par unité de temps (ou le courant de l'échantillon) est égal au nombre d'électrons primaires moins le nombre d'électrons transmis, secondaires ou rediffusés. La fraction d'électrons absorbée dépend donc de plusieurs paramètres, dont la composition et l'épaisseur des échantillons, l'énergie primaire des électrons, l'angle d'incidence des électrons et les champs électrostatiques locaux qui peuvent être présents.  1, record 3, French, - %C3%A9lectron%20absorb%C3%A9

Record 3,  Textual support,  Spanish

Record 4,  Textual support,  English

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

[In in situ microanalysis], number of back scattered electrons(BSEs) generated per primary electron for a given specimen and experimental condition. It depends on(mean) atomic number of the excited area of the sample, angle between electron beam and sample surface, primary electron energy and thickness of the sample.  1, record 4, English, - back%20scatter%20coefficient

Record 4,  Textual support,  French

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

[En microanalyses in situ], [...] le nombre d'électrons rétrodiffusés engendrés par électron primaire, pour un échantillon et des conditions expérimentales données. Il dépend du numéro atomique (moyen) de la surface excitée de l'échantillon, de l'angle entre le faisceau d'électrons et la surface de l'échantillon, de l'énergie de l'électron primaire et de l'épaisseur de l'échantillon.  1, record 4, French, - coefficient%20de%20r%C3%A9trodiffusion

Record 4,  Textual support,  Spanish