TERMIUM Plus^®

Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Standard AES [Auger Electron Spectroscopy] and XPS [X-ray Photoelectron Spectroscopy] instruments have the ability to sputter argon ions to depth-profile the surfaces of interest, yielding composition as a function of depth. For stainless steel analysis, the total depth of analysis is typically 15 nm [nanometers].  1, record 1, English, - depth%20of%20analysis

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Pour mettre en œuvre la spectroscopie Auger induite par des électrons en vue de l’analyse des surfaces solides, il suffit, en principe, de disposer d’une enceinte ultravide équipée d’un canon à électrons et d’un analyseur. Couvrant généralement l’intervalle énergétique de 50 eV [électronvolts] à 2,5 keV [kiloélectronvolts], le spectre des électrons Auger ainsi obtenu garantit une profondeur d’analyse inférieure à 10 nm [nanomètres] et il s’inscrit sur le fond continu des électrons primaires rétrodiffusés et en amont du spectre des électrons secondaires.  1, record 1, French, - profondeur%20d%26rsquo%3Banalyse

Record 1,  Textual support,  Spanish