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SIMS [3 records]

Record 1 2014-05-06

English

Subject field(s)
  • Optics
  • Analytical Chemistry
DEF

A technique for microchemical analysis that permits the visualization of a three-dimensional chemical image of the solid state using primary ions.

OBS

Ion probe instrumentation requires a primary ion source, primary ion extraction and focusing systems, a sample chamber ... a mass spectrometer for mass-charge separation of the secondary ions, and a ion-detection system.

French

Domaine(s)
  • Optique
  • Chimie analytique
CONT

Analyse quantitative de la surface de l'acier par microanalyse ionique [...]. L'utilisation du microanalyseur ionique de Slodzian en tant que technique d'étude des surfaces est liée à la maîtrise des deux phénomènes mis en œuvre, à savoir le phénomène de pulvérisation cathodique qui permet de mettre à nu des plans atomiques de plus en plus profonds et le phénomène d'émission ionique secondaire qui permet d'analyser, à l'aide du spectromètre de masse, les éléments contenus dans la cible.

OBS

Cette technique, initialement introduite par Castaing et Slodzian dès 1962 pour l'analyse de surface en géologie et en métallurgie, a été appliquée à la biologie par Galle à partir de 1970. Le principe de base de la méthode repose sur un principe simple; si une surface est bombardée par un faisceau d'ions primaires énergétiques ces particules vont induire la rupture des liaisons chimiques des molécules présentes dans les couches superficielles de l'échantillon et conduire à la désorption d'atomes ou de petits fragments polyatomiques neutres ou chargés (ions secondaires). Ces ions peuvent alors être accélérés et focalisés par des lentilles électrostatiques pour finalement être analysés et «triés» par un spectromètre de masse. L'ensemble du faisceau secondaire conserve la totalité de l'information topologique initiale et il est possible, en sélectionnant un ion particulier, de reconstituer la distribution spatiale de l'élément considéré.

OBS

microanalyse : Cette graphie, puisée des Rectifications de l'orthographe recommandées par le Conseil supérieur de la langue française, est attestée dans le Petit Robert (2004).

Key term(s)
  • microanalyse de l'émission ionique secondaire

Spanish

Campo(s) temático(s)
  • Óptica
  • Química analítica
CONT

[...] muy pocas técnicas de caracterización estructural de materiales tienen la capacidad de obtener información relevante con la resolución espacial adecuada. Entre ellas se encuentra la técnica de espectrometría de masas de iones secundarios(en inglés, secondary ion mass spectrometry, SIMS en lo sucesivo). Con esa técnica se puede estudiar la composición química de capas con una resolución en profundidad inferior a un nanómetro […]

OBS

SIMS : según su sigla en inglés(secondary ion mass spectrometry).

Save record 1

Record 2 2014-04-22

English

Subject field(s)
  • Optics
  • Mining Engineering
CONT

The study of the distribution of platinum group elements (PGE) and other minor constituents in minerals of ores and processing products was continued. Emphasis was placed on the development of methods of in situ micro-analysis by particle-induced X-ray emissions (micro-PIXE) and secondary ion mass spectroscopy (SIMS).

French

Domaine(s)
  • Optique
  • Génie minier
CONT

On a continué d'étudier la distribution des éléments du groupe du platine (EGP) et d'autres éléments mineurs dans les minerais et les produits de traitement. Les travaux ont porté principalement sur la mise au point de méthodes de micro-analyse in situ par émission de rayons X induite par des particules (micro-PIXE) et par spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS).

Spanish

Campo(s) temático(s)
  • Óptica
  • Ingeniería de minas
CONT

SIMS es una técnica para el análisis de superficies [que] utiliza iones para bombardear la muestra, estos iones son llamados iones primarios y pueden ser de carga positiva o negativa. El impacto de los iones produce una erosión que resulta en partículas como átomos, moléculas, iones entre otras. Los iones producto de este bombardeo son llamados iones secundarios, son recolectados y seleccionados de acuerdo a su carga, energía y masa, finalmente son cuantificados.

OBS

SIMS : según su sigla en inglés(secondary ion mass spectroscopy).

Save record 2

Record 3 2011-08-09

English

Subject field(s)
  • Diagnostic Procedures (Medicine)
  • Musculoskeletal System
DEF

A position to facilitate a vaginal examination, the patient lying on the side with the under arm behind the back, the thighs flexed, the upper one more than the lower.

French

Domaine(s)
  • Méthodes diagnostiques (Médecine)
  • Appareil locomoteur (Médecine)
CONT

La position latérale gauche (position de Sims) offre les avantages suivants : le patient est plus à l'aise, et toute table d'examen ou civière, ou tout lit convient. Les fesses du patient sont placées de façon qu'elles dépassent le bord de la table, les hanches sont fléchies et les genoux légèrement relevés. L'examinateur peut être assis ou debout.

OBS

Le terme «position de Sims» a été privilégié par le Comité de sémiologie médicale.

Spanish

Campo(s) temático(s)
  • Procedimientos diagnósticos (Medicina)
  • Sistema musculoesquelético (Medicina)
DEF

Posición en la cual la paciente se recuesta sobre el lado izquierdo con la rodilla y el muslo derechos doblados hacia el tórax. Se deja que tórax y abdomen se inclinen hacia delante.

CONT

Posición de Sims [...] utilizada para procedimientos obstétricos y corrección de fístulas vesicovaginales.

Save record 3

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