TERMIUM Plus^®

Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Scanning transmission electron microscopy (STEM) combines the principles of transmission electron microscopy and scanning electron microscopy and can be performed on either type of instrument. Like TEM [transmission electron microscopy], STEM requires very thin samples and looks primarily at beam electrons transmitted by the sample. One of its principal advantages over TEM is in enabling the use of other signals that cannot be spatially correlated in TEM, including secondary electrons, scattered beam electrons, characteristic X-rays, and electron energy loss. Like SEM [scanning electron microscopy], the STEM technique scans a very finely focused beam of electrons across the sample in a raster pattern. Interactions between the beam electrons and sample atoms generate a serial signal stream, which is correlated with beam position to build a virtual image in which the signal level at any location in the sample is represented by the gray level at the corresponding location in the image. Its primary advantage over conventional SEM imaging is the improvement in spatial resolution.  3, record 1, English, - scanning%20transmission%20electron%20microscopy

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Caractérisation des nanomatériaux par microscopie électronique à transmission et à balayage : résolution, analyse X, diffraction électronique, topographie et cartographie.  4, record 1, French, - microscopie%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20transmission%20et%20%C3%A0%20balayage

Record 1,  Textual support,  Spanish

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

El grupo de investigación [...] ha desarrollado un nuevo método de fabricación de nanoagujas localizadas en el interior de muestras de distintos materiales, que presentan un amplio rango de aplicaciones, como la preparación de muestras para análisis por microscopía electrónica de transmisión (TEM) y transmisión-barrido (STEM), para técnicas de microscopía óptica de barrido de campo cercano, tomografía electrónica y microscopía de sonda atómica.  2, record 1, Spanish, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

STEM: por su sigla en inglés (scanning transmission electron microscopy).  3, record 1, Spanish, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n%20y%20barrido

Record 2,  Textual support,  English

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Transmission electron microscopy is used to produce images from a sample by illuminating the sample with electrons (i.e. the electron beam) within a high vacuum, and detecting the electrons that are transmitted through the sample.  4, record 2, English, - transmission%20electron%20microscopy

Record 2,  Textual support,  French

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Dans la microscopie à transmission électronique (TEM), les électrons sont émis à partir d'un filament et accélérés dans un champ électrique. La lentille du condensateur dirige le faisceau d'électrons sur l'échantillon. Les lentilles de l'objectif et du projecteur concentrent les électrons qui passent à travers le spécimen et les projettent sur un écran ou sur un autre détecteur [...] Les électrons étant absorbés par les atomes de l'air, la totalité du tube situé entre la source d'électrons et le détecteur est maintenue sous vide.  5, record 2, French, - microscopie%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20transmission

Record 2,  Textual support,  Spanish

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

El grupo de investigación [...] ha desarrollado un nuevo método de fabricación de nanoagujas localizadas en el interior de muestras de distintos materiales, que presentan un amplio rango de aplicaciones, como la preparación de muestras para análisis por microscopía electrónica de transmisión (TEM) y transmisión-barrido (STEM), para técnicas de microscopía óptica de barrido de campo cercano, tomografía electrónica y microscopía de sonda atómica.  2, record 2, Spanish, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

TEM: por su sigla en inglés (transmission electron microscopy).  4, record 2, Spanish, - microscop%C3%ADa%20electr%C3%B3nica%20de%20transmisi%C3%B3n

Record 3,  Textual support,  English

Record 3,  Textual support,  French

Record number: 3, Textual support number: 1 CONT

En microscopie électronique à transmission classique, la visualisation des structures dépend essentiellement du dépôt de métaux lourds (opaques aux électrons). Cela permet une visualisation générale des structures protéiques.  1, record 3, French, - microscopie%20%C3%A9lectronique%20%C3%A0%20transmission%20classique

Record 3,  Textual support,  Spanish

Record 4,  Textual support,  English

Record number: 4, Textual support number: 1 DEF

... the collection of spectroscopic data in the transmission electron microscope (TEM) based on various signals generated following the inelastic interaction of the incident electron beam with the sample.  1, record 4, English, - analytical%20electron%20microscopy

Record number: 4, Textual support number: 1 OBS

These signals can be used to identify and quantify the concentration of the elements present in the analyzed area, map their distribution in the sample with high spatial resolution (down to 1 nm or better), and even determine their chemical state.  1, record 4, English, - analytical%20electron%20microscopy

Record 4,  Textual support,  French

Record number: 4, Textual support number: 1 CONT

Le but du travail présenté ici est double. Il s’agit, dans un premier temps, d’illustrer la démarche permettant de faire un choix raisonné d’échantillons, sur lesquels nous réalisons des études représentatives par microscopie électronique analytique à l’échelle des constituants (du millimètre au nanomètre).  5, record 4, French, - microscopie%20%C3%A9lectronique%20analytique

Record 4,  Textual support,  Spanish