TERMIUM Plus^®

Record 1,  Textual support,  English

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

The contact mode atomic force microscope (AFM) uses a tip that is connected to a cantilever which has a spring constant of about 0.01 - 0.3 N/m.  1, record 1, English, - contact%20mode%20atomic%20force%20microscope

Record 1,  Textual support,  French

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

[...] la version 3100 est composée d’un microscope à force atomique en mode contact ou en mode tapping, mode qui permet d’étudier la surface d’échantillons de toute taille. Elle est équipée de moteurs pas-à-pas qui permettent une étude exhaustive à grande échelle des échantillons.  1, record 1, French, - microscope%20%C3%A0%20force%20atomique%20en%20mode%20contact

Record 1,  Textual support,  Spanish

Record number: 1, Textual support number: 1 CONT

Microscopio de fuerza atómica [...] Tiene resolución de fracciones de angstrom. Su sonda está formada por un cantilever microscópico con una fina punta en su extremo encargada de rastrear la muestra. Puede trabajar en modo "contacto" y en modo "sin contacto". En el primer caso la punta toca la muestra y ésta ejerce una fuerza sobre la primera a medida que la sonda se desplaza sobre la muestra en el plano XY.  1, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 2 CONT

El microscopio de fuerza atómica o AFM por sus siglas en inglés, muestrea la superficie mediante una punta muy pequeña de unos pocos micrones de largo y un diámetro más pequeño aún, de unos diez nanómetros. [...] Las fuerzas que actúan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van der Waals que ocurre entre átomos. Esta fuerza puede ser de atracción o de repulsión, dependiendo de la distancia entre los átomos. Esto da lugar a dos modos de operación, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sitúa a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatómica es de repulsión. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atracción.  3, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record number: 1, Textual support number: 1 OBS

AFM: por su sigla en inglés (atomic force microscope).  4, record 1, Spanish, - microscopio%20de%20fuerza%20at%C3%B3mica%20en%20modo%20contacto

Record 2,  Textual support,  English

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

From the batch of monthly monitoring samples, the Grand Forks Field Office will select 10 samples and forward them to TSD [Technical Services Division] for additional monitoring.  2, record 2, English, - monitoring%20sample

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

Term used at the Canadian Grain Commission.  3, record 2, English, - monitoring%20sample

Record 2,  Textual support,  French

Record number: 2, Textual support number: 1 CONT

Dès que vous recevez un échantillon de contrôle, 1. ouvrez l'enveloppe scellée renfermant l'échantillon [...]  2, record 2, French, - %C3%A9chantillon%20de%20contr%C3%B4le

Record number: 2, Textual support number: 1 OBS

Terme en usage à la Commission canadienne des grains.  3, record 2, French, - %C3%A9chantillon%20de%20contr%C3%B4le

Record 2,  Textual support,  Spanish